9780720417579 - computed electron micrographs and defect identification di head, a.k.; etc. (3 risultati)
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Da: Anybook.com, Lincoln, Regno UnitoAnybook.com
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
A K Head, P Humble, L M Clarebrough, A J Morton and C T Forwood
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Da: MB Books, Derbyshire, Regno UnitoMB Books
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Da: Webbooks, Wigtown, Wigtown, Regno UnitoWebbooks, Wigtown
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