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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45 - Rilegato

Reimer, Ludwig

 
9783540639763: Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45
Rilegato
ISBN 10: 3540639764 ISBN 13: 9783540639763
Casa editrice: Springer Nature, 1998

Sinossi

Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

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Dalla quarta di copertina

Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interations. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

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Editore
Springer Nature
Data di pubblicazione
1998
Lingua
Inglese
ISBN 10 
3540639764
ISBN 13 
9783540639763
Rilegatura
Copertina rigida
Numero di pagine
527
Redattore
Hawkes P. W.
Contatto del produttore
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