Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties

Dahoo, Pierre-Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak

ISBN 10: 1786306409 ISBN 13: 9781786306401
Editore: John Wiley & Sons, 2021
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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