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9781786306401 - Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties (1) di Dahoo, Pierre Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, ... (17 risultati)
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Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 144,42
Spedizione EUR 5,50
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 156,57
Spedizione EUR 2,28
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 157,58
Spedizione EUR 2,28
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 154,60
Spedizione EUR 5,82
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 153,16
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 153,14
Spedizione EUR 17,38
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 158,07
Spedizione EUR 17,38
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 174,61
Spedizione EUR 17,72
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 190,54
Spedizione EUR 7,53
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Lingua: Inglese
Editore: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2021
ISBN 10: 1786306409 ISBN 13: 9781786306401
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 192,67
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. 2021. 1st Edition. Hardcover. . . . . .
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EUR 167,92
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Pierre Richard Dahoo is Professor and Holder of the Chair of Materials Simulation and Engineering at the University of Versailles Saint-Quentin in France. He is Director of Institut des Sciences et Techniques des Yvelines and a specialist in modeling and sp.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1, Volume 9: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 220,34
Spedizione EUR 14,48
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 256 pages. 0.39x0.39x0.39 inches. In Stock.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Lingua: Inglese
Editore: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2021
ISBN 10: 1786306409 ISBN 13: 9781786306401
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 241,75
Spedizione EUR 9,07
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. 2021. 1st Edition. Hardcover. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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EUR 207,22
Spedizione EUR 62,71
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - To develop innovations in quantum engineering and nanosystems, designers need to adopt the expertise that has been developed in research laboratories. This requires a thorough understanding of the experimental measurement techniques and theoretical models, based on the principles of quantum mechanics.This book presents experimental methods enabling the development and characterization of materials at the nanometer scale, based on practical engineering cases, such as 5G and the interference of polarized light when applied for electromagnetic waves. Using the example of electromechanical, multi-physical coupling in piezoelectric systems, smart materials technology is discussed, with an emphasis on scale reduction and mechanical engineering applications.Statistical analysis methods are presented in terms of their usefulness in systems engineering for experimentation, characterization or design, since safety factors and the most advanced reliability calculation techniques are included from the outset. This book provides valuable support for teachers and researchers but is also intended for engineering students, working engineers and Master s students.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1, Volume 9: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 206,71
Spedizione EUR 14,48
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 256 pages. 0.39x0.39x0.39 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 211,38
Spedizione EUR 17,72
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 454.
