CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)

Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic Testing

Pavlov, Andrei; Sachdev, Manoj

ISBN 10: 1402083629 ISBN 13: 9781402083624
Editore: Springer, 2008
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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