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Valutazione venditore
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Ivan the Terrible
Libro 32 di 51: Profiles In PowerDa: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Paperback. Condizione: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Ivan the Terrible
Libro 32 di 51: Profiles In PowerDa: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Very Good. 1 Edition. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Ivan the Terrible
Libro 32 di 51: Profiles In PowerDa: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. 1 Edition. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Paperback. Condizione: Very Good. Connecting readers with great books since 1972! Used books may not include companion materials, and may have some shelf wear or limited writing. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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??????? ????????? ?????& (Paperback or Softback)
Editore: British Library, Historical Print Editions 6/23/2011, 2011
ISBN 10: 1241757062 ISBN 13: 9781241757069
Da: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Paperback or Softback. Condizione: New. ??????? ????????? ?????&. Book.
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Lingua: Ucraino
Editore: British Library, Historical Print Editions, 2011
ISBN 10: 1241757062 ISBN 13: 9781241757069
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 10,49
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Lingua: Ucraino
Editore: British Library, Historical Print Editions, 2011
ISBN 10: 1241757062 ISBN 13: 9781241757069
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 11,22
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Cmos Sram: Circuit Design And Parametric Test In Nano Scaled Technologies Process Aware Sram Design And Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Books in my Basket, New Delhi, India
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 12,53
Spedizione EUR 16,00
Spedito da India a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloN.A. Condizione: New. ISBN:9788132202325.
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Ivan the Terrible
Libro 32 di 51: Profiles In PowerDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 45,70
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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??????? ????????? ... ?? (Ukrainian Edition)
Lingua: Ucraino
Editore: British Library, Historical Print Editions, 2011
ISBN 10: 1241757062 ISBN 13: 9781241757069
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 17,48
Spedizione EUR 13,73
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Ivan the Terrible
Libro 32 di 51: Profiles In PowerDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 56,12
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Lingua: Ucraino
Editore: British Library, Historical Print Editions, 2011
ISBN 10: 1241757062 ISBN 13: 9781241757069
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 16,11
Spedizione EUR 17,20
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Lingua: Ucraino
Editore: British Library, Historical Print Editions, 2011
ISBN 10: 1241757062 ISBN 13: 9781241757069
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 17,47
Spedizione EUR 17,20
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Patrico Books, Apollo Beach, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: As New. Ships Out Tomorrow!
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Ivan the Terrible
Libro 32 di 51: Profiles In PowerDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 248.
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Ivan the Terrible
Libro 32 di 51: Profiles In PowerDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 77,01
Spedizione EUR 17,20
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Ivan the Terrible (Profiles In Power)
Libro 32 di 51: Profiles In PowerDa: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 81,23
Spedizione EUR 17,76
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New.
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Ivan the Terrible
Libro 32 di 51: Profiles In PowerDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 83,89
Spedizione EUR 17,20
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Ivan the Terrible
Libro 32 di 51: Profiles In PowerDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 90,51
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 248.
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EUR 67,75
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Ivan the Terrible (Profiles in Power Series)
Libro 32 di 51: Profiles In PowerDa: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 110,61
Spedizione EUR 11,46
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 1st edition. 248 pages. 8.25x5.25x0.50 inches. In Stock.
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware Sram Design and Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingEUR 29,90
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | As technology scales into nano-meter region, design and test of Static Random Access Memories (SRAMs) becomes a highly complex task. Process disturbances and various defect mechanisms contribute to the increasing number of unstable SRAM cells with parametric sensitivity. Growing sizes of SRAM arrays increase the likelihood of cells with marginal stability and pose strict constraints on transistor parameters distributions.Standard functional tests often fail to detect unstable SRAM cells. Undetected unstable cells deteriorate quality and reliability of the product as such cells may fail to retain the data and cause a system failure. Special design and test measures have to be taken to identify cells with marginal stability. However, it is not sufficient to identify the unstable cells. To ensure reliable system operation, unstable cells have to be repaired. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware Sram Design and Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingEUR 29,90
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | As technology scales into nano-meter region, design and test of Static Random Access Memories (SRAMs) becomes a highly complex task. Process disturbances and various defect mechanisms contribute to the increasing number of unstable SRAM cells with parametric sensitivity. Growing sizes of SRAM arrays increase the likelihood of cells with marginal stability and pose strict constraints on transistor parameters distributions.Standard functional tests often fail to detect unstable SRAM cells. Undetected unstable cells deteriorate quality and reliability of the product as such cells may fail to retain the data and cause a system failure. Special design and test measures have to be taken to identify cells with marginal stability. However, it is not sufficient to identify the unstable cells. To ensure reliable system operation, unstable cells have to be repaired. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.
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Ivan the Terrible
Libro 32 di 51: Profiles In PowerDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 109,81
Spedizione EUR 28,66
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 161,51
Spedizione EUR 13,73
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 161,50
Spedizione EUR 17,20
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Ivan the Terrible
Libro 32 di 51: Profiles In PowerDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 171,16
Spedizione EUR 17,20
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Ivan the Terrible
Libro 32 di 51: Profiles In PowerDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 187,24
Spedizione EUR 17,20
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
