Pavlov andrei (51 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Group, 2003
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Da: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.Better World Books
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Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2003
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Editore: British Library, Historical Print Editions 6/23/2011, 2011
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Lingua: Inglese
Editore: Springer Nature (Sie), 2011
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 21 di 40. Libro 21 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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N.A. Condizione: New. ISBN:9788132202325.
Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2003
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2003
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Lingua: Inglese
Editore: Longman Group, 2003
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Lingua: Inglese
Editore: Routledge 2003-08-27, 2003
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Da: Chiron Media, Wallingford, Regno UnitoChiron Media
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Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2003
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Lingua: Inglese
Editore: Longman Group, 2003
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
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Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis, 2003
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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Lingua: Inglese
Editore: Longman Pub Group, 2003
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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Paperback. Condizione: Brand New. 1st edition. 248 pages. 8.25x5.25x0.50 inches. In Stock.
Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2003
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2003
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 21 di 40. Libro 21 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 21 di 40. Libro 21 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 21 di 40. Libro 21 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2016
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 21 di 40. Libro 21 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | As technology scales into nano-meter region, design and test of Static Random Access Memories (SRAMs) becomes a highly complex task. Process disturbances and various defect mechanisms contribute to the increasing number of unstable SRAM cells with… parametric sensitivity. Growing sizes of SRAM arrays increase the likelihood of cells with marginal stability and pose strict constraints on transistor parameters distributions.Standard functional tests often fail to detect unstable SRAM cells. Undetected unstable cells deteriorate quality and reliability of the product as such cells may fail to retain the data and cause a system failure. Special design and test measures have to be taken to identify cells with marginal stability. However, it is not sufficient to identify the unstable cells. To ensure reliable system operation, unstable cells have to be repaired. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 21 di 40. Libro 21 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Buchpark, Trebbin, GermaniaBuchpark
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EUR 93,44
EUR 105,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | As technology scales into nano-meter region, design and test of Static Random Access Memories (SRAMs) becomes a highly complex task. Process disturbances and various defect mechanisms contribute to the increasing number of unstable SRAM ce…lls with parametric sensitivity. Growing sizes of SRAM arrays increase the likelihood of cells with marginal stability and pose strict constraints on transistor parameters distributions.Standard functional tests often fail to detect unstable SRAM cells. Undetected unstable cells deteriorate quality and reliability of the product as such cells may fail to retain the data and cause a system failure. Special design and test measures have to be taken to identify cells with marginal stability. However, it is not sufficient to identify the unstable cells. To ensure reliable system operation, unstable cells have to be repaired. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.
Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2016
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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EUR 190,67
EUR 17,51 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2016
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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EUR 209,77
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Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2016
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
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Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2016
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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EUR 197,46
EUR 17,51 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
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Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2016
Serie: Profiles In Power, Libro 32 di 51. Libro 32 di 51 - Profiles In Power
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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EUR 215,02
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