CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)

Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic Testing

Pavlov, Andrei; Sachdev, Manoj

ISBN 10: 904817855X ISBN 13: 9789048178551
Editore: Springer, 2010
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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