An Improved Markov Random Field Design Approach For Digital Circuits | Introducing Fault-Tolerance With Higher Noise-Immunity For The Nano-Circuits As Compared To CMOS And MRF Designs

Jahanzeb Anwer (u. a.)

ISBN 10: 3844332634 ISBN 13: 9783844332636
Editore: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2011
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

Venduto da preigu, Osnabrück, Germania

Venditore AbeBooks dal 5 agosto 2024

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Brossura

Condizione: Nuovo

Prezzo:
EUR 43,35
EUR 70,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.

Quantità: 5 disponibili

Aggiungere al carrello