Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development

Way Kuo, .; Wei-Ting Kary Chien; Taeho Kim

ISBN 10: 1461375967 ISBN 13: 9781461375968
Editore: Springer, 2014
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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