Taeho kim (40 risultati)
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Lingua: Inglese
Editore: Stockholm International Peace Research Instit 1996
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Kim, Senior China Analyst In The Policy Planning Directorate Taeho
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Kim, Senior China Analyst In The Policy Planning Directorate Taeho
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Kim, Senior China Analyst In The Policy Planning Directorate Taeho
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Condizione: New. KlappentextrnrnThe purposes of this research were: (1) the modeling of a CID situation and (2) the search for robust and controllable input variable settings. The inputs were defined as controllable and noise variables and the confusion matrices.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Neuware - The purposes of this research were: (1) the modeling of a CID situation and (2) the search for robust and controllable input variable settings. The inputs were defined as controllable and noise variables and the confusion matrices in ROC theory were adapted to act as controllable factors.…In this research a simple virtual battlespace representation is employed. The experimental results of the CID system are summarized by a posterior confusion matrix and throughout the confusion matrix analysis we can obtain all various types of data such as accuracy, error cost, error rates, and so forth. To find the optimal parameters three evaluation techniques were applied: (1) Linearly constrained discrete optimization, (2) Taguchi's S|N ratio method and (3) Robust parameter design with a combined array. The results are compared and contrasted across different objective functions.
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Engineering Mathematics with MATLAB
Yang, Won Y.; Choi, Young K.; Kim, Jaekwon; Kim, Man Cheol; Kim, H. Jin; Im, Taeho
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Kim, Senior China Analyst In The Policy Planning Directorate Taeho
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ENGINEERING MATHEMATICS WITH MATLAB
Yang, Won Y.; Choi, Young K.; Kim, Jaekwon; Kim, Man Cheol; Kim, H. Jin; Im, Taeho
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Kim, Senior China Analyst In The Policy Planning Directorate Taeho
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ENGINEERING MATHEMATICS WITH MATLAB
Yang, Won Y.; Choi, Young K.; Kim, Jaekwon; Kim, Man Cheol; Kim, H. Jin; Im, Taeho
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Electronic Circuits with MATLAB, PSpice, and Smith Chart
Yang, Won Y.; Kim, Jaekwon; Park, Kyung W.; Baek, Donghyun; Lim, Sungjoon; Joung, Jingon; Park, Suhyun; Lee, Han L.; Choi, Woo June; Im, Taeho
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Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
Kim, Senior China Analyst In The Policy Planning Directorate Taeho
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ENGINEERING MATHEMATICS WITH MATLAB
Yang, Won Y.; Choi, Young K.; Kim, Jaekwon; Kim, Man Cheol; Kim, H. Jin; Im, Taeho
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Electronic Circuits with MATLAB, PSpice, and Smith Chart
Yang, Won Y.; Kim, Jaekwon; Park, Kyung W.; Baek, Donghyun; Lim, Sungjoon; Joung, Jingon; Park, Suhyun; Lee, Han L.; Choi, Woo June; Im, Taeho
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Applied Numerical Methods Using MATLAB
Yang, Won Y.; Cao, Wenwu; Kim, Jaekwon; Park, Kyung W.; Park, Ho-Hyun; Joung, Jingon; Ro, Jong-Suk; Lee, Han L.; Hong, Cheol-Ho; Im, Taeho
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Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
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Applied Numerical Methods Using MATLAB
Yang, Won Y.; Cao, Wenwu; Kim, Jaekwon; Park, Kyung W.; Park, Ho-Hyun; Joung, Jingon; Ro, Jong-Suk; Lee, Han L.; Hong, Cheol-Ho; Im, Taeho
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Da: Buchpark, Trebbin, GermaniaBuchpark
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Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 428 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | The international market is very competitive for high-tech manufacturers to day. Achieving competitive quality and reliability for products requires leader ship from the top, good management practices, effective and efficient opera…tion and maintenance systems, and use of appropriate up-to-date engineering de sign tools and methods. Furthermore, manufacturing yield and reliability are interrelated. Manufacturing yield depends on the number of defects found dur ing both the manufacturing process and the warranty period, which in turn determines the reliability. the production of microelectronics has evolved into Since the early 1970's, one of the world's largest manufacturing industries. As a result, an important agenda is the study of reliability issues in fabricating microelectronic products and consequently the systems that employ these products, particularly, the new generation of microelectronics. Such an agenda should include: ¿ the economic impact of employing the microelectronics fabricated by in dustry, ¿ a study of the relationship between reliability and yield, ¿ the progression toward miniaturization and higher reliability, and ¿ the correctness and complexity of new system designs, which include a very significant portion of software.
