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behnam ghavami (38 risultati)
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 52,33
Spedizione EUR 2,26
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 59,87
Spedizione EUR 2,26
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,37
Spedizione EUR 13,82
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,37
Spedizione EUR 13,82
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,36
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. 1st ed. 2021 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 65,79
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 77,76
Spedizione EUR 11,54
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 127 pages. 9.25x6.10x9.21 inches. In Stock.
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 100,60
Spedizione EUR 2,26
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 90,80
Spedizione EUR 13,82
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 90,80
Spedizione EUR 13,82
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 105,42
Spedizione EUR 2,26
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 90,79
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Ci
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 124.
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 101,85
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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EUR 50,35
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Soft Error Reliability of VLSI Circuits | Analysis and Mitigation Techniques | Behnam Ghavami (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2021 | Springer | EAN 9783030516123 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 135,96
Spedizione EUR 11,54
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 120 pages. 9.25x6.10x0.28 inches. In Stock.
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 137,89
Spedizione EUR 11,54
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 120 pages. 9.25x6.10x9.21 inches. In Stock.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, 2023
ISBN 10: 3031153472 ISBN 13: 9783031153471
EUR 90,94
Spedizione EUR 61,01
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, 2022
ISBN 10: 3031153448 ISBN 13: 9783031153440
EUR 90,94
Spedizione EUR 61,80
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.
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EUR 72,72
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 46,22
Spedizione EUR 5,50
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 46,22
Spedizione EUR 5,50
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 75,05
Spedizione EUR 7,50
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 76,30
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Berlin|Springer International Publishing|Springer, 2021
ISBN 10: 3030516121 ISBN 13: 9783030516123
EUR 47,23
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimation and GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniqu.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, 2020
ISBN 10: 3030516091 ISBN 13: 9783030516093
EUR 47,23
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides an accessible, comprehensive introduction to soft errorsDescribes an easy to follow procedure for modeling, analysis, and estimation of soft error rate of digital circuitsIncludes state-of-the art soft error aware CAD algorithms.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Okt 2021, 2021
ISBN 10: 3030516121 ISBN 13: 9783030516123
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,49
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book is intended for readers who are interested in the design of robust and reliable electronic digital systems. The authors cover emerging trends in design of today¿s reliable electronic systems which are applicable to safety-critical applications, such as automotive or healthcare electronic systems. The emphasis is on modeling approaches and algorithms for analysis and mitigation of soft errors in nano-scale CMOS digital circuits, using techniques that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. The authors introduce software tools for analysis and mitigation of soft errors in electronic systems, which can be integrated easily with design flows. In addition to discussing soft error aware analysis techniques for combinational logic, the authors also describe new soft error mitigation strategies targeting commercial digital circuits. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 128 pp. Englisch.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Okt 2020, 2020
ISBN 10: 3030516091 ISBN 13: 9783030516093
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
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EUR 53,49
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book is intended for readers who are interested in the design of robust and reliable electronic digital systems. The authors cover emerging trends in design of today¿s reliable electronic systems which are applicable to safety-critical applications, such as automotive or healthcare electronic systems. The emphasis is on modeling approaches and algorithms for analysis and mitigation of soft errors in nano-scale CMOS digital circuits, using techniques that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. The authors introduce software tools for analysis and mitigation of soft errors in electronic systems, which can be integrated easily with design flows. In addition to discussing soft error aware analysis techniques for combinational logic, the authors also describe new soft error mitigation strategies targeting commercial digital circuits. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 128 pp. Englisch.
