Beyerer juergen (302 risultati)
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Machine Learning for Cyber Physical Systems : Selected Papers from the International Conference Ml4cps 2020
Beyerer, Jürgen (EDT); Maier, Alexander (EDT); Niggemann, Oliver (EDT)
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Editore: Karlsruhe : Fraunhofer IITB, 2006
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Lingua: Inglese
Editore: Berlin, Springer Verlag., 2016
Serie: Technologien für die intelligente Automation, Libro 1 di 9. Libro 1 di 9 - Technologien für die intelligente Automation
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Machine Learning for Cyber Physical Systems : Selected Papers from the International Conference Ml4cps 2020
Beyerer, Jürgen (EDT); Maier, Alexander (EDT); Niggemann, Oliver (EDT)
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Machine Learning for Cyber-physical Systems : Selected Papers from the International Conference Ml4cps 2023
Niggemann, Oliver (EDT); Beyerer, Jürgen (EDT); Krantz, Maria (EDT); Kühnert, Christian (EDT)
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Machine Learning for Cyber-physical Systems : Selected Papers from the International Conference Ml4cps 2023
Niggemann, Oliver (EDT); Beyerer, Jürgen (EDT); Krantz, Maria (EDT); Kühnert, Christian (EDT)
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Paperback. Condizione: new. Paperback. This open access proceedings presents new approaches to Machine Learning for Cyber-Physical Systems, experiences and visions. It contains some selected papers from the international Conference ML4CPS Machine Learning for Cyber-Physical Systems, which was held in Hamburg (Germany), March 29t…h to 31st, 2023. Cyber-physical systems are characterized by their ability to adapt and to learn: They analyze their environment and, based on observations, they learn patterns, correlations and predictive models. Typical applications are condition monitoring, predictive maintenance, image processing and diagnosis. Machine Learning is the key technology for these developments.This is an open access book. This open access proceedings presents new approaches to Machine Learning for Cyber-Physical Systems, experiences and visions. Cyber-physical systems are characterized by their ability to adapt and to learn: They analyze their environment and, based on observations, they learn patterns, correlations and predictive models. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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8° Paperback. Condizione: Sehr gut. 300 S. The conference will serve as an international and interdisciplinary communication platform for decision-makers, executive bodies, economic organisations and research and development partners. The conference defines the position of key organisations and demonstrates the potential of inno…vative technologiesand preventative research for civil security on an international level. B02-03-03D Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 416.
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Machine Learning for Cyber Physical Systems : Selected Papers from the International Conference Ml4cps 2020
Beyerer, Jürgen (EDT); Maier, Alexander (EDT); Niggemann, Oliver (EDT)
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Editore: Karlsruher Institut f�r Technologie 2014-07, 2014
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Paperback. Condizione: New. 2nd edition. The book offers a thorough introduction to Pattern Recognition aimed at master and advanced bachelor students of engineering and the natural sciences. Besides classification - the heart of Pattern Recognition - special emphasis is put on features: their typology, their properties and thei…r systematic construction. Additionally, general principles that govern Pattern Recognition are illustrated and explained in a comprehensible way. Rather than presenting a complete overview over the rapidly evolving field, the book clarifies the concepts so that the reader can easily understand the underlying ideas and the rationale behind the methods. For this purpose, the mathematical treatment of Pattern Recognition is pushed so far that the mechanisms of action become clear and visible, but not farther. Therefore, not all derivations are driven into the last mathematical detail, as a mathematician would expect it. Ideas of proofs are presented instead of complete proofs. From the authors' point of view, this concept allows to teach the essential ideas of Pattern Recognition with sufficient depth within a relatively lean book.
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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