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dasgupta sudeb kaushik brajesh kumar (27 risultati)
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Spacer Engineered FinFET Architectures: High-Performance Digital Circuit Applications
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 65,63
Convertire valutaEUR 10,15 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 154.
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EUR 68,59
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Spacer Engineered FinFET Architectures: High-Performance Digital Circuit Applications
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 76,95
Convertire valutaEUR 7,95 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 154.
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Spacer Engineered FinFET Architectures: High-Performance Digital Circuit Applications
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 81,51
Convertire valutaEUR 7,66 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 3 disponibili
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 ? July 2, 2017, Revised Selected Papers: 711 (Communications in Computer and Information Science, 711)
Da: Bahamut Media, Reading, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 87,52
Convertire valutaEUR 8,59 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellopaperback. Condizione: Very Good. Shipped within 24 hours from our UK warehouse. Clean, undamaged book with no damage to pages and minimal wear to the cover. Spine still tight, in very good condition. Remember if you are not happy, you are covered by our 100% money back guarantee.
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 â" July 2, 2017, Revised Selected Papers: 711 (Communications in Computer and Information Science, 711)
Da: AwesomeBooks, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 87,52
Convertire valutaEUR 8,59 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellopaperback. Condizione: Very Good. VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 â" July 2, 2017, Revised Selected Papers: 711 (Communications in Computer and Information Science, 711) This book is in very good condition and will be shipped within 24 hours of ordering. The cover may have some limited signs of wear but the pages are clean, intact and the spine remains undamaged. This book has clearly been well maintained and looked after thus far. Money back guarantee if you are not satisfied. See all our books here, order more than 1 book and get discounted shipping. .
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EUR 95,96
Convertire valutaEUR 25,52 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. SUPER FAST SHIPPING.
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 711)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,19
Convertire valutaEUR 10,31 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
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VLSI Design and Test
Editore: Springer Nature Singapore, Springer Nature Singapore Dez 2017, 2017
ISBN 10: 9811074690 ISBN 13: 9789811074691
Lingua: Inglese
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
Convertire valutaEUR 15,00 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017.The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 840 pp. Englisch.
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Spacer Engineered FinFET Architectures High-Performance Digital Circuit Applications
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 118,55
Convertire valutaEUR 7,66 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers
Editore: Springer Nature Singapore, Springer Nature Singapore, 2017
ISBN 10: 9811074690 ISBN 13: 9789811074691
Lingua: Inglese
EUR 113,44
Convertire valutaEUR 14,99 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.
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Spacer Engineered FinFET Architectures High-Performance Digital Circuit Applications
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 122,55
Convertire valutaEUR 10,15 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 711)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 126,27
Convertire valutaEUR 7,66 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science)
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 112,50
Convertire valutaEUR 22,93 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New.
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VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 ? July 2, 2017, Revised Selected Papers
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 129,36
Convertire valutaEUR 7,66 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Spacer Engineered FinFET Architectures High-Performance Digital Circuit Applications
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 127,12
Convertire valutaEUR 7,95 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 711)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,95
Convertire valutaEUR 63,85 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Vlsi Design and Test: 21st International Symposium, Vdat 2017, Roorkee, India, June 29-july 2, 2017, Revised Selected Papers
Editore: Springer-Verlag New York Inc, 2018
ISBN 10: 9811074690 ISBN 13: 9789811074691
Lingua: Inglese
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 158,02
Convertire valutaEUR 11,47 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. revised edition. 840 pages. 9.25x6.10x1.73 inches. In Stock.
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 711)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 163,01
Convertire valutaEUR 28,67 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New. New. book.
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Spacer Engineered FinFET Architectures: High-Performance Digital Circuit Applications
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 180,73
Convertire valutaEUR 28,67 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellopaperback. Condizione: New. New. book.
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Spacer Engineered Finfet Architectures: High-performance Digital Circuit Applications
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 200,86
Convertire valutaEUR 11,47 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 138 pages. 9.50x6.50x0.55 inches. In Stock.
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Spacer Engineered FinFET Architectures: High-Performance Digital Circuit Applications
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 258,69
Convertire valutaEUR 28,67 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New. New. book.
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EUR 92,27
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloKartoniert / Broschiert. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and .
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VLSI Design and Test
Editore: Springer Nature Singapore Dez 2017, 2017
ISBN 10: 9811074690 ISBN 13: 9789811074691
Lingua: Inglese
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
Convertire valutaEUR 11,00 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification. 840 pp. Englisch.
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VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 ? July 2, 2017, Revised Selected Papers
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 133,98
Convertire valutaEUR 10,15 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand.
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VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 ? July 2, 2017, Revised Selected Papers
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 138,84
Convertire valutaEUR 7,95 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 4 disponibili
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EUR 162,64
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Brajesh Kumar Kaushik received Ph.D. degree in 2007 from Indian Institute of Technology Roorkee, India. He served Vinytics Peripherals Pvt. Ltd., Delhi, as Research and Development Engineer in microprocessor, microcontroller, and DSP (Di.
