Debashis bhattacharya (71 risultati)
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Einstein Relation in Compound Semiconductors and Their Nanostructures.
Ghatak, Kamakhya Prasad, Sitangshu Bhattacharya,and Debashis De, Eds.
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Einstein Relation In Compound Semiconductors And Their Nanostructures
Ghatak, Kamakhya Prasad; Bhattacharya, Sitangshu; De, Debashis
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Condizione: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 160 pages, biography. BIC Classification: T; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 940. . 1989. Hardback. . . . . …
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Test generation is one of the most difficult tasks facing the designer of complex VLSI-based digital systems. Much of this difficulty is attributable to the almost universal use in testing of low, gate-level circuit and fault models that predate integrated circuit technology. It is long been recognized that the testing prob lem can be alleviated by the use of higher-level methods in which multigate modules or cells are the primitive components in test generation; however, the development of such methods has proceeded very slowly. To be acceptable, high-level approaches should be applicable to most types of digital circuits, and should provide fault coverage comparable to that of traditional, low-level methods. The fault coverage problem has, perhaps, been the most intractable, due to continued reliance in the testing industry on the single stuck-line (SSL) fault model, which is tightly bound to the gate level of abstraction. This monograph presents a novel approach to solving the foregoing problem. It is based on the systematic use of multibit vectors rather than single bits to represent logic signals, including fault signals. A circuit is viewed as a collection of high-level components such as adders, multiplexers, and registers, interconnected by n-bit buses. To match this high-level circuit model, we introduce a high-level bus fault that, in effect, replaces a large number of SSL faults and allows them to be tested in parallel. However, by reducing the bus size from n to one, we can obtain the traditional gate-level circuit and models.…
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