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Advances in Imaging and Electron Physics
Libro 44 di 77: ISSNDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 195,17
Spedizione EUR 7,52
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 364.
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Advances in Imaging and Electron Physics
Libro 44 di 77: ISSNDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 364.
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Advances in Imaging and Electron Physics: Selected problems of computational charged particle optics: Selected Problems of Computational Charged . . and Electron Physics): Vol. 155: Volume 155
Libro 44 di 77: ISSNDa: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 199,55
Spedizione EUR 17,91
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Advances in Imaging and Electron Physics
Libro 44 di 77: ISSNDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 216,13
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 364.
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Advances in Imaging and Electron Physics: Selected Problems of Computational Charged Particle Optics: Vol 155
Libro 44 di 77: ISSNDa: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 223,44
Spedizione EUR 14,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
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Advances in Imaging and Electron Physics: Selected Problems of Computational Charged Particle Optics
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 380,89
Spedizione EUR 14,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 364 pages. 9.00x6.00x0.82 inches. In Stock.
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Advances in Imaging and Electron Physics
Libro 44 di 77: ISSNLingua: Inglese
Editore: Elsevier Science & Technology, Academic Press, 2009
ISBN 10: 0123747171 ISBN 13: 9780123747174
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 150,00
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains. This monograph summarizes the authors' knowledge and experience acquired over many years in their work on computational charged particle optics. Its main message is that even in this era of powerful computers with a multitude of general-purpose and problem-oriented programs, asymptotic analysis based on perturbation theory remains one of the most effective tools to penetrate deeply into the essence of the problem in question. Englisch.
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Advances in Imaging and Electron Physics: Selected Problems of Computational Charged Particle Optics: Volume 155
Libro 44 di 77: ISSNDa: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 206,99
Spedizione EUR 6,80
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Advances in Imaging and Electron Physics : Selected Problems of Computational Charged Particle Optics
Libro 44 di 77: ISSNLingua: Inglese
Editore: Elsevier Science & Technology, Academic Press, 2009
ISBN 10: 0123747171 ISBN 13: 9780123747174
EUR 165,99
Spedizione EUR 63,50
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains. This monograph summarizes the authors' knowledge and experience acquired over many years in their work on computational charged particle optics. Its main message is that even in this era of powerful computers with a multitude of general-purpose and problem-oriented programs, asymptotic analysis based on perturbation theory remains one of the most effective tools to penetrate deeply into the essence of the problem in question.
