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Edizione InternazionaleOptoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Lingua: Inglese
Editore: Mississauga, ON, Canada: John Wiley & Sons Canada, Limited, 2011
ISBN 10: 0470827343 ISBN 13: 9780470827345
Da: Sizzler Texts, SAN GABRIEL, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 42,80
Spedizione EUR 8,31
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloSoft cover. Condizione: New. Condizione sovraccoperta: New. 1st Edition. **International edition** Read carefully before purchase: This book is the international edition in mint condition with the different ISBN and book cover design, the major content is printed in full English as same as the original North American edition. The book printed in black and white, generally send in twenty-four hours after the order confirmed. All shipments contain tracking numbers. Great professional textbook selling experience and expedite shipping service.
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era. Theory and Applications.
Libro 242 di 323: International Series in Operations Research & Management ScienceDa: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Germania
Membro dell'associazione: GIAQ ILAB VDA
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 20,00
Spedizione EUR 30,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellox, 280 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
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Edizione Internazionale
Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Lingua: Inglese
Editore: Wiley-Blackwell (an imprint of John Wiley & Sons Ltd), Chicester, 2011
ISBN 10: 0470827343 ISBN 13: 9780470827345
Da: Aideo Books, San Marino, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 51,39
Spedizione EUR 4,12
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloTrade paperback. Condizione: New in new dust jacket. First edition. ***INTERNATIONAL EDITION*** Read carefully before purchase: This book is the international edition in mint condition with the different ISBN and book cover design, the major content is printed in full English as same as the original North American edition. The book printed in black and white, generally send in twenty-four hours after the order confirmed. All shipments contain tracking numbers. Great professional textbook selling experience and expedite shipping service. 312 p. Audience: Professional and scholarly.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Compund Field Effect Transistors
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 105,16
Spedizione EUR 2,20
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Optimization and Control for Systems in the Big-data Era : Theory and Applications
Libro 242 di 323: International Series in Operations Research & Management ScienceDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era (Paperback)
Libro 242 di 323: International Series in Operations Research & Management ScienceLingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing AG, Cham, 2018
ISBN 10: 3319851713 ISBN 13: 9783319851716
Da: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Paperback. Condizione: new. Paperback. This book focuses on optimal control and systems engineering in the big data era. It examines the scientific innovations in optimization, control and resilience management that can be applied to further success. In both business operations and engineering applications, there are huge amounts of data that can overwhelm computing resources of large-scale systems. This big data provides new opportunities to improve decision making and addresses risk for individuals as well in organizations. While utilizing data smartly can enhance decision making, how to use and incorporate data into the decision making framework remains a challenging topic. Ultimately the chapters in this book present new models and frameworks to help overcome this obstacle.Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era: Theory and Applications is divided into five parts. Part I offers reviews on optimization and control theories, and Part II examines the optimization and control applications. Part III provides novel insights and new findings in the area of financial optimization analysis. The chapters in Part IV deal with operations analysis, covering flow-shop operations and quick response systems. The book concludes with final remarks and a look to the future of big data related optimization and control problems. This book focuses on optimal control and systems engineering in the big data era. Part I offers reviews on optimization and control theories, and Part II examines the optimization and control applications. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era: Theory and Applications (International Series in Operations Research & Management Science, 252)
Libro 242 di 323: International Series in Operations Research & Management ScienceDa: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 108,64
Spedizione EUR 3,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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EUR 119,43
Spedizione gratuita
Spedito da Australia a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBrand new book. Fast ship. Please provide full street address as we are not able to ship to P O box address.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors (Electromagnetic Waves)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 116,43
Spedizione EUR 3,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors (Electromagnetic Waves)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 113,30
Spedizione EUR 13,78
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In English.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Compund Field Effect Transistors
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 109,50
Spedizione EUR 17,25
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Optimization and Control for Systems in the Big-data Era : Theory and Applications
Libro 242 di 323: International Series in Operations Research & Management ScienceDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Modeling and Parameter Extraction Techniques of Silicon-based Radio Frequency Devices
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 128,84
Spedizione EUR 2,20
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors (Electromagnetic Waves)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 131,11
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Modeling And Parameter Extraction Techniques Of Silicon-based Radio Frequency Devices
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 131,11
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era: Theory and Applications (International Series in Operations Research & Management Science, 252)
Libro 242 di 323: International Series in Operations Research & Management ScienceDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 123,57
Spedizione EUR 13,78
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Modeling and Parameter Extraction Techniques of Silicon-based Radio Frequency Devices
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 136,51
Spedizione EUR 2,20
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors
Lingua: Inglese
Editore: SciTech Publishing Inc, US, 2010
ISBN 10: 1891121898 ISBN 13: 9781891121890
EUR 140,51
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This book is an introduction to microwave and RF signal modeling and measurement techniques for field effect transistors. It assumes only a basic course in electronic circuits and prerequisite knowledge for readers to apply the techniques and improve the performance of integrated circuits, reduce design cycles and increase their chance at first time success. The first chapters offer a general overview and discussion of microwave signal and noise matrices, and microwave measurement techniques. The following chapters address modeling techniques for field effect transistors and cover models such as: small signal, large signal, noise, and the artificial neural network based.
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era: Theory and Applications: 252 (International Series in Operations Research & Management Science)
Libro 242 di 323: International Series in Operations Research & Management ScienceDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. Softcover reprint of the original 1st ed. 2017 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 145,62
Spedizione EUR 2,20
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 144,47
Spedizione EUR 3,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era (Hardcover)
Libro 242 di 323: International Series in Operations Research & Management ScienceLingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing AG, Cham, 2017
ISBN 10: 3319535161 ISBN 13: 9783319535166
Da: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
Hardcover. Condizione: new. Hardcover. This book focuses on optimal control and systems engineering in the big data era. It examines the scientific innovations in optimization, control and resilience management that can be applied to further success. In both business operations and engineering applications, there are huge amounts of data that can overwhelm computing resources of large-scale systems. This big data provides new opportunities to improve decision making and addresses risk for individuals as well in organizations. While utilizing data smartly can enhance decision making, how to use and incorporate data into the decision making framework remains a challenging topic. Ultimately the chapters in this book present new models and frameworks to help overcome this obstacle.Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era: Theory and Applications is divided into five parts. Part I offers reviews on optimization and control theories, and Part II examines the optimization and control applications. Part III provides novel insights and new findings in the area of financial optimization analysis. The chapters in Part IV deal with operations analysis, covering flow-shop operations and quick response systems. The book concludes with final remarks and a look to the future of big data related optimization and control problems. This book focuses on optimal control and systems engineering in the big data era. Part I offers reviews on optimization and control theories, and Part II examines the optimization and control applications. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era : Theory and Applications
Libro 242 di 323: International Series in Operations Research & Management ScienceDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era: Theory and Applications (International Series in Operations Research & Management Science, 252)
Libro 242 di 323: International Series in Operations Research & Management ScienceDa: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 153,36
Spedizione EUR 3,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Modeling and Parameter Extraction Techniques of Silicon-based Radio Frequency Devices
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 145,30
Spedizione EUR 17,25
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Modeling and Parameter Extraction Techniques of Silicon-based Radio Frequency Devices
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 145,95
Spedizione EUR 17,25
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Modeling And Parameter Extraction Techniques Of Silicon-based Radio Frequency Devices
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 147,66
Spedizione EUR 13,78
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors
Lingua: Inglese
Editore: SciTech Publishing Inc, US, 2010
ISBN 10: 1891121898 ISBN 13: 9781891121890
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 162,34
Spedizione gratuita
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This book is an introduction to microwave and RF signal modeling and measurement techniques for field effect transistors. It assumes only a basic course in electronic circuits and prerequisite knowledge for readers to apply the techniques and improve the performance of integrated circuits, reduce design cycles and increase their chance at first time success. The first chapters offer a general overview and discussion of microwave signal and noise matrices, and microwave measurement techniques. The following chapters address modeling techniques for field effect transistors and cover models such as: small signal, large signal, noise, and the artificial neural network based.
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Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 162,81
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era: Theory and Applications (International Series in Operations Research & Management Science, 252)
Libro 242 di 323: International Series in Operations Research & Management ScienceDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 159,12
Spedizione EUR 13,78
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
