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gao jianjun (52 risultati)
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Edizione InternazionaleOptoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Lingua: Inglese
Editore: Mississauga, ON, Canada: John Wiley & Sons Canada, Limited, 2011
ISBN 10: 0470827343 ISBN 13: 9780470827345
Da: Sizzler Texts, SAN GABRIEL, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 44,26
Spedizione EUR 8,59
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloSoft cover. Condizione: New. Condizione sovraccoperta: New. 1st Edition. **International edition** Read carefully before purchase: This book is the international edition in mint condition with the different ISBN and book cover design, the major content is printed in full English as same as the original North American edition. The book printed in black and white, generally send in twenty-four hours after the order confirmed. All shipments contain tracking numbers. Great professional textbook selling experience and expedite shipping service.
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Edizione Internazionale
Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Lingua: Inglese
Editore: Wiley-Blackwell (an imprint of John Wiley & Sons Ltd), Chicester, 2011
ISBN 10: 0470827343 ISBN 13: 9780470827345
Da: Aideo Books, San Marino, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,13
Spedizione EUR 4,26
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloTrade paperback. Condizione: New in new dust jacket. First edition. ***INTERNATIONAL EDITION*** Read carefully before purchase: This book is the international edition in mint condition with the different ISBN and book cover design, the major content is printed in full English as same as the original North American edition. The book printed in black and white, generally send in twenty-four hours after the order confirmed. All shipments contain tracking numbers. Great professional textbook selling experience and expedite shipping service. 312 p. Audience: Professional and scholarly.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Compund Field Effect Transistors
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 121,25
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Compund Field Effect Transistors
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 110,73
Spedizione EUR 17,33
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors (Electromagnetic Waves)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,68
Spedizione EUR 13,84
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In English.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors
Lingua: Inglese
Editore: SciTech Publishing Inc, US, 2010
ISBN 10: 1891121898 ISBN 13: 9781891121890
EUR 132,34
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This book is an introduction to microwave and RF signal modeling and measurement techniques for field effect transistors. It assumes only a basic course in electronic circuits and prerequisite knowledge for readers to apply the techniques and improve the performance of integrated circuits, reduce design cycles and increase their chance at first time success. The first chapters offer a general overview and discussion of microwave signal and noise matrices, and microwave measurement techniques. The following chapters address modeling techniques for field effect transistors and cover models such as: small signal, large signal, noise, and the artificial neural network based.
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Modeling and Parameter Extraction Techniques of Silicon-based Radio Frequency Devices
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 138,30
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era: Theory and Applications: 252 (International Series in Operations Research & Management Science)
Libro 242 di 323: International Series in Operations Research & Management ScienceDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. Softcover reprint of the original 1st ed. 2017 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Modeling and Parameter Extraction Techniques of Silicon-based Radio Frequency Devices
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 139,21
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era: Theory and Applications (International Series in Operations Research & Management Science, 252)
Libro 242 di 323: International Series in Operations Research & Management ScienceDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 126,54
Spedizione EUR 13,84
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Modeling And Parameter Extraction Techniques Of Silicon-based Radio Frequency Devices
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 132,60
Spedizione EUR 13,84
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors
Lingua: Inglese
Editore: SciTech Publishing Inc, US, 2010
ISBN 10: 1891121898 ISBN 13: 9781891121890
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 148,59
Spedizione gratuita
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This book is an introduction to microwave and RF signal modeling and measurement techniques for field effect transistors. It assumes only a basic course in electronic circuits and prerequisite knowledge for readers to apply the techniques and improve the performance of integrated circuits, reduce design cycles and increase their chance at first time success. The first chapters offer a general overview and discussion of microwave signal and noise matrices, and microwave measurement techniques. The following chapters address modeling techniques for field effect transistors and cover models such as: small signal, large signal, noise, and the artificial neural network based.
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Modeling and Parameter Extraction Techniques of Silicon-based Radio Frequency Devices
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 132,58
Spedizione EUR 17,33
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 150,56
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 149,37
Spedizione EUR 3,43
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Modeling and Parameter Extraction Techniques of Silicon-based Radio Frequency Devices
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 146,34
Spedizione EUR 17,33
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 168,34
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Compund Field Effect Transistors
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 160,68
Spedizione EUR 17,33
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors
Lingua: Inglese
Editore: SciTech Publishing Inc, US, 2010
ISBN 10: 1891121898 ISBN 13: 9781891121890
Da: Rarewaves USA United, OSWEGO, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 135,46
Spedizione EUR 43,01
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This book is an introduction to microwave and RF signal modeling and measurement techniques for field effect transistors. It assumes only a basic course in electronic circuits and prerequisite knowledge for readers to apply the techniques and improve the performance of integrated circuits, reduce design cycles and increase their chance at first time success. The first chapters offer a general overview and discussion of microwave signal and noise matrices, and microwave measurement techniques. The following chapters address modeling techniques for field effect transistors and cover models such as: small signal, large signal, noise, and the artificial neural network based.
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era | Theory and Applications
Libro 242 di 323: International Series in Operations Research & Management ScienceEUR 104,15
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era | Theory and Applications | Tsan-Ming Choi (u. a.) | Taschenbuch | x | Englisch | 2018 | Springer | EAN 9783319851716 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era: Theory and Applications (International Series in Operations Research & Management Science, 252)
Libro 242 di 323: International Series in Operations Research & Management ScienceDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 162,82
Spedizione EUR 13,84
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors (Electromagnetics and Radar)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 151,17
Spedizione EUR 28,89
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Compund Field Effect Transistors
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 183,11
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era : Theory and Applications
Libro 242 di 323: International Series in Operations Research & Management ScienceLingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer International Publishing, 2018
ISBN 10: 3319851713 ISBN 13: 9783319851716
EUR 117,69
Spedizione EUR 62,23
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on optimal control and systems engineering in the big data era. It examines the scientific innovations in optimization, control and resilience management that can be applied to further success. In both business operations and engineering applications, there are huge amounts of data that can overwhelm computing resources of large-scale systems. This 'big data' provides new opportunities to improve decision making and addresses risk for individuals as well in organizations. While utilizing data smartly can enhance decision making, how to use and incorporate data into the decision making framework remains a challenging topic. Ultimately the chapters in this book present new models and frameworks to help overcome this obstacle.Optimization and Control for Systems in the Big-Data Era: Theory and Applications is divided into five parts. Part I offers reviews on optimization and control theories, and Part II examines the optimization and control applications. Part III provides novel insights and new findings in the area of financial optimization analysis. The chapters in Part IV deal with operations analysis, covering flow-shop operations and quick response systems. The book concludes with final remarks and a look to the future of big data related optimization and control problems.
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EUR 134,58
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Über den AutorrnrnJianjun Gao received the B.Eng. and Ph.D. degrees from the Tsinghua University, and M. Eng. Degree from Hebei Semiconductor Research Institute. From 1999 to 2001, he was a Post-Doctoral Research Fellow at the Microelect.
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Modeling and Parameter Extraction Techniques of Silicon-based Radio Frequency Devices
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Pub Co Inc, 2023
ISBN 10: 9811255350 ISBN 13: 9789811255359
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 178,45
Spedizione EUR 14,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 350 pages. 9.25x6.26x0.94 inches. In Stock.
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RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Compund Field Effect Transistors
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 178,79
Spedizione EUR 14,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 339 pages. 9.00x6.00x0.75 inches. In Stock.
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Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 183,95
Spedizione EUR 17,33
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 189,24
Spedizione EUR 17,33
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Optoelectronic Integrated Circuit Design and Device Modeling
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 179,73
Spedizione EUR 28,89
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
