Granieri michael n (1 risultati)
AUTOTESTCON '79, International AUTOMATIC TESTING Conference: 19-21 September 1979, Minneapolis, Minnesota
Moebus, L. Frank; Granieri, Michael N.; Jackson, Philip C.; et.al.
Editore: IEEE; The Institute of Electrical and Electronic Engineers, Inc., New York, NY, U.S.A. 1979
- Brossura
- Prima edizione
Da: SUNSET BOOKS 2, Newark, OH, U.S.A.SUNSET BOOKS 2
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