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hamid bentarzi (74 risultati)
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The 1st International Conference On Computational Engineering And Intelligent Systems
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 46,23
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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The 1st International Conference on Computational Engineering and Intelligent Systems (Hardback or Cased Book)
Da: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardback or Cased Book. Condizione: New. The 1st International Conference on Computational Engineering and Intelligent Systems. Book.
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Transport in metal-oxide-semiconductor structures : mobile ions effects on the oxide properties. Engineering materials
Libro 7 di 110: Engineering MaterialsLingua: Inglese
Editore: Berlin ; Heidelberg : Springer, 2011
ISBN 10: 3642163033 ISBN 13: 9783642163036
Da: Kepler-Buchversand Huong Bach, Weil der Stadt, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 29,00
Spedizione EUR 19,90
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloGr.-8°, gebundene Ausgabe. Condizione: Sehr gut. XIII, 104 S. : graph. Darst. Gebraucht: sehr guter Zustand. Contents: Introduction / The MOS STructure / The MOS Oxide and its Defects / Review of Transport Mechanism in Thin Oxides / of MOS Devices / Experimental Techniques / Theoretical Approaches of Mobile Ions Density Distribution Determination / Theoretical Model of Mobile Ions Distribution and Ionic Current in the MOS Oxide / Index. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 315.
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The 1st International Conference on Computational Engineering and Intelligent Systems
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 50,58
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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The 1st International Conference On Computational Engineering And Intelligent Systems
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 49,48
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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The 2nd International Conference on Computational Engineering and Intelligent Systems
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 50,70
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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The 2nd International Conference on Computational Engineering and Intelligent Systems (Hardback or Cased Book)
Da: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardback or Cased Book. Condizione: New. The 2nd International Conference on Computational Engineering and Intelligent Systems. Book.
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The 2nd International Conference on Computational Engineering and Intelligent Systems
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 56,74
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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The 1st International Conference On Computational Engineering And Intelligent Systems
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 48,24
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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The 1st International Conference on Computational Engineering and Intelligent Systems
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 50,55
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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The 1st International Conference On Computational Engineering And Intelligent Systems
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 55,38
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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The 2nd International Conference on Computational Engineering and Intelligent Systems
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 57,01
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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The 2nd International Conference on Computational Engineering and Intelligent Systems
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 59,52
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Transport In Metal-oxide-semiconductor Structures: Mobile Ions Effects On The Oxide Properties (engineering Materials)
Libro 7 di 110: Engineering MaterialsDa: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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The 2nd International Conference on Computational Engineering and Intelligent Systems
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 64,15
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures: Mobile Ions Effects on the Oxide Properties (Engineering Materials)
Libro 7 di 110: Engineering MaterialsDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 112,57
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures: Mobile Ions Effects on the Oxide Properties (Engineering Materials)
Libro 7 di 110: Engineering MaterialsDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 114,29
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures : Mobile Ions Effects on the Oxide Properties
Libro 7 di 110: Engineering MaterialsEUR 29,00
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book focuses on the importance of mobile ions presented in oxide structures, what significantly affects the metal-oxide-semiconductor (MOS) properties. The reading starts with the definition of the MOS structure, its various aspects and different types of charges presented in their structure. A review on ionic transport mechanisms and techniques for measuring the mobile ions concentration in the oxides is given, special attention being attempted to the Charge Pumping (CP) technique associated with the Bias Thermal Stress (BTS) method. Theoretical approaches to determine the density of mobile ions as well as their distribution along the oxide thickness are also discussed. The content varies from general to very specific examples, helping the reader to learn more about transport in MOS structures.
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Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures
Libro 7 di 110: Engineering MaterialsDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. xiv + 106.
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Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures: Mobile Ions Effects on the Oxide Properties
Libro 7 di 110: Engineering MaterialsDa: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 149,70
Spedizione EUR 11,54
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 2011 edition. 117 pages. 9.25x6.10x0.28 inches. In Stock.
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Transport in Metal-oxide-semiconductor Structures: Mobile Ions Effects on the Oxide Properties
Libro 7 di 110: Engineering MaterialsDa: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 151,32
Spedizione EUR 11,54
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 104 pages. 9.00x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures: Mobile Ions Effects on the Oxide Properties (Engineering Materials)
Libro 7 di 110: Engineering MaterialsDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 141,46
Spedizione EUR 28,85
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures | Mobile Ions Effects on the Oxide Properties
Libro 7 di 110: Engineering MaterialsEUR 95,15
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures | Mobile Ions Effects on the Oxide Properties | Hamid Bentarzi | Taschenbuch | Engineering Materials | xiv | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9783642266881 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures : Mobile Ions Effects on the Oxide Properties
Libro 7 di 110: Engineering MaterialsLingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2013
ISBN 10: 3642266886 ISBN 13: 9783642266881
EUR 106,99
Spedizione EUR 60,98
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on the importance of mobile ions presented in oxide structures, what significantly affects the metal-oxide-semiconductor (MOS) properties. The reading starts with the definition of the MOS structure, its various aspects and different types of charges presented in their structure. A review on ionic transport mechanisms and techniques for measuring the mobile ions concentration in the oxides is given, special attention being attempted to the Charge Pumping (CP) technique associated with the Bias Thermal Stress (BTS) method. Theoretical approaches to determine the density of mobile ions as well as their distribution along the oxide thickness are also discussed. The content varies from general to very specific examples, helping the reader to learn more about transport in MOS structures.
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Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures : Mobile Ions Effects on the Oxide Properties
Libro 7 di 110: Engineering MaterialsLingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, 2011
ISBN 10: 3642163033 ISBN 13: 9783642163036
EUR 106,99
Spedizione EUR 61,88
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on the importance of mobile ions presented in oxide structures, what significantly affects the metal-oxide-semiconductor (MOS) properties. The reading starts with the definition of the MOS structure, its various aspects and different types of charges presented in their structure. A review on ionic transport mechanisms and techniques for measuring the mobile ions concentration in the oxides is given, special attention being attempted to the Charge Pumping (CP) technique associated with the Bias Thermal Stress (BTS) method. Theoretical approaches to determine the density of mobile ions as well as their distribution along the oxide thickness are also discussed. The content varies from general to very specific examples, helping the reader to learn more about transport in MOS structures.
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Optimizing and Measuring Smart Grid Operation and Control
Lingua: Inglese
Editore: Engineering Science Reference, 2020
ISBN 10: 1799869210 ISBN 13: 9781799869214
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 201,36
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Optimizing and Measuring Smart Grid Operation and Control
Lingua: Inglese
Editore: Engineering Science Reference, 2020
ISBN 10: 1799869210 ISBN 13: 9781799869214
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 189,19
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Optimizing and Measuring Smart Grid Operation and Control
Lingua: Inglese
Editore: Engineering Science Reference, 2020
ISBN 10: 1799869210 ISBN 13: 9781799869214
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 189,17
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Optimizing and Measuring Smart Grid Operation and Control
Lingua: Inglese
Editore: Engineering Science Reference, 2020
ISBN 10: 1799869210 ISBN 13: 9781799869214
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 213,84
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Optimizing and Measuring Smart Grid Operation and Control
Lingua: Inglese
Editore: Engineering Science Reference, 2020
ISBN 10: 1799869210 ISBN 13: 9781799869214
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 213,20
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
