Harland tompkins (65 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Da: HPB Inc., Dallas, TX, U.S.A.HPB Inc.
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Paperback. Condizione: Very Good. Connecting readers with great books since 1972! Used books may not include companion materials, and may have some shelf wear or limited writing. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
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Editore: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Editore: Dover Publications 7/7/2006, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Paperback or Softback. Condizione: New. A User's Guide to Ellipsometry. Book.
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Editore: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Da: Lakeside Books, Benton Harbor, MI, U.S.A.Lakeside Books
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Editore: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Editore: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Editore: Dover Publications Inc., New York, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Da: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, U.S.A.Grand Eagle Retail
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Paperback. Condizione: new. Paperback. This text on optics for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. Its 14 case studies illustrate concepts and reinforce applications of ellipsometry - particula…rly in relation to the semiconductor industry and to studies involving corrosion and oxide growth.A User's Guide to Ellipsometry will enable readers to move beyond limited turn-key applications of ellipsometers. In addition to its comprehensive discussions of the measurement of film thickness and optical constants in film, it also considers the trajectories of the ellipsometric parameters Del and Psi and how changes in materials affect parameters. This volume also addresses the use of polysilicon, a material commonly employed in the microelectronics industry, and the effects of substrate roughness. Three appendices provide helpful references. Text for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. 1993 edition. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
Lingua: Inglese
Editore: Dover Pubns, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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Paperback. Condizione: Brand New. 260 pages. 8.25x5.25x0.50 inches. In Stock.
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Editore: Dover Publications Inc. 2009-01-01, 2009
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Da: Chiron Media, Wallingford, Regno UnitoChiron Media
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Paperback. Condizione: New.
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Editore: Dover Publications, Incorporated, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Condizione: New.
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Editore: Dover Publications, Incorporated, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
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Condizione: New. pp. xii + 260 Illus.
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Editore: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Editore: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Paperback. Condizione: New. Ellipsometry is an experimental technique for determining the thickness and optical properties of thin films. It is ideally suited for films ranging in thickness from sub-nanometer to several microns. Spectroscopic measurements have greatly expanded the capabilities of this technique and introduced it…s use into all areas where thin films are found: semiconductor devices, flat panel and mobile displays, optical coating stacks, biological and medical coatings, protective layers, and more. While several scholarly books exist on the topic, this book provides a good introduction to the basic theory of the technique and its common applications. The target audience is not the ellipsometry scholar, but process engineers and students of materials science who are experts in their own fields and wish to use ellipsometry to measure thin film properties without becoming an expert in ellipsometry itself.
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Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.California Books
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Paperback. Condizione: New. Ellipsometry is an experimental technique for determining the thickness and optical properties of thin films. It is ideally suited for films ranging in thickness from sub-nanometer to several microns. Spectroscopic measurements have greatly expanded the capabilities of this technique and introduced it…s use into all areas where thin films are found: semiconductor devices, flat panel and mobile displays, optical coating stacks, biological and medical coatings, protective layers, and more. While several scholarly books exist on the topic, this book provides a good introduction to the basic theory of the technique and its common applications. The target audience is not the ellipsometry scholar, but process engineers and students of materials science who are experts in their own fields and wish to use ellipsometry to measure thin film properties without becoming an expert in ellipsometry itself.
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Paperback or Softback. Condizione: New. Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization. Book.
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Condizione: New.
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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Paperback. Condizione: Brand New. 178 pages. 9.00x6.00x0.50 inches. In Stock.
Lingua: Inglese
Editore: Dover Publications Inc., 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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EUR 18,03
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. Inhaltsverzeichnisrnrn1. Theoretical Aspectsn2. Instrumentationn3. Using Optical Parameters to Determine Material Propertiesn4. Determining Optical Parameters for Inaccessible Substrates and Unknown Filmsn5. Extremely Thin Filmsn6. The Spe.
- Rilegato
Da: HPB-Red, Dallas, TX, U.S.A.HPB-Red
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EUR 67,41
EUR 3,25 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
- Rilegato
- Prima edizione
Da: Row By Row Bookshop, Sugar Grove, NC, U.S.A.Row By Row Bookshop
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EUR 66,90
EUR 4,33 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Hardcover. Condizione: Good. No Dust Jacket. First Edition. An ex-library copy in original dark blue hard covers lettered and decorated in gold. The usual ex-libris markings. The binding is sound, the text is clean/unmarked, and there is little cover wear. No dust jacket. Book.
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Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
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EUR 65,40
EUR 5,50 spedizioneSpedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: new.
Lingua: Inglese
Editore: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.BennettBooksLtd
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paperback. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
Lingua: Inglese
Editore: Dover Publications Jul 2006, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 20,00
EUR 61,50 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. Neuware - This text on optics for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. 14 case studies illustrate concepts and applications. Three appendices provide helpful refere…nces. 1993 edition.
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Da: Rarewaves USA United, OSWEGO, IL, U.S.A.Rarewaves USA United
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EUR 39,27
EUR 43,30 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Paperback. Condizione: New. Ellipsometry is an experimental technique for determining the thickness and optical properties of thin films. It is ideally suited for films ranging in thickness from sub-nanometer to several microns. Spectroscopic measurements have greatly expanded the capabilities of this technique and introduced it…s use into all areas where thin films are found: semiconductor devices, flat panel and mobile displays, optical coating stacks, biological and medical coatings, protective layers, and more. While several scholarly books exist on the topic, this book provides a good introduction to the basic theory of the technique and its common applications. The target audience is not the ellipsometry scholar, but process engineers and students of materials science who are experts in their own fields and wish to use ellipsometry to measure thin film properties without becoming an expert in ellipsometry itself.
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Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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EUR 75,83
EUR 9,50 spedizioneSpedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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