Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
haugstad greg (16 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (16)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (12)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (3)
- Molto buono o Buono (1)
- Discreto o Mediocre (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Come descritto (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Legatura
- Tutte
- Rilegato (16)
- Brossura (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (1)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (3)
- Non Print on Demand (15)
Lingua (1)
Prezzo
- Qualsiasi prezzo
- Inferiore a EUR 20 (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- EUR 20 a EUR 45
- Superiore a EUR 45
Spedizione gratuita
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
EUR 34,49
Spedizione EUR 20,99
Spedito da Repubblica Ceca a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Fine. Leichte Rillen / Abschürfungen / Risse / Knicke. This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.
-
Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Lingua: Inglese
Editore: Wiley & Sons, Incorporated, John, 2012
ISBN 10: 0470638826 ISBN 13: 9780470638828
Da: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
-
Atomic Force Microscopy
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 138,45
Spedizione EUR 6,78
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
-
Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 136,40
Spedizione EUR 8,00
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new.
-
Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 147,27
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 147,59
Spedizione EUR 17,32
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,91
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Atomic Force Microscopy
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 179,49
Spedizione EUR 7,51
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 520.
-
Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 165,50
Spedizione EUR 21,93
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
-
Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 172,08
Spedizione EUR 17,32
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Atomic Force Microscopy
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 520 Index.
-
Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 184,51
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). Num Pages: 488 pages, Illustrations. BIC Classification: PDND; TBN; TG. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 243 x 165 x 29. Weight in Grams: 834. . 2012. 1st Edition. Hardcover. . . . .
-
Atomic Force Microscopy Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 210,74
Spedizione EUR 14,43
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 520 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock.
-
Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 230,58
Spedizione EUR 9,01
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). Num Pages: 488 pages, Illustrations. BIC Classification: PDND; TBN; TG. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 243 x 165 x 29. Weight in Grams: 834. . 2012. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
-
EUR 219,60
Spedizione EUR 63,91
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware.
-
Atomic Force Microscopy Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 194,78
Spedizione EUR 14,43
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 520 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock. This item is printed on demand.
