Joseph i goldstein (49 risultati)
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Joseph I. Goldstein~Dale E. Newbury~Patrick Echlin~David C. Joy~Charles Fiori~Eric Lifshin
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : A Text for Biologists, Materials Scientists and Geologists
Newbury, Dale E., Fiori, Charles, Goldstein, Joseph I., Echlin, Patrick, Joy, David C.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Joseph I. Goldstein,Dale E. Newbury,Patrick Echlin,David C. Joy,Charles Fiori,Eric Lifshin
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hardcover. Condizione: Very Good. Springer November 1981.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Joseph I. Goldstein,Dale E. Newbury,Patrick Echlin,David C. Joy,Charles Fiori,Eric Lifshin
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Editore: Shambhala, 2020
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Hardcover. Condizione: Near Fine. Condizione sovraccoperta: Fair. First Edition. Second printing. 674 pp. Owner name written inside. No other user marks. DJ stain inside and chipping at corners. s.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists (Second Edition)
Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig, Alton D. Jr.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Condizione: Very Good. Hardcover, [xviii], 820 pages. Very Good condition in a Good dust jacket. Second edition. Size 10.25"x7.5". "The authors, emphasizing the practical aspects of the techniques described, discuss user-controlled functions of scanning electron microscope and electron microprobe electron optics, the characteris…tics of electron-specimen interactions, image formation and interpretation, and x-ray spectrometry." Book has moderate handling/shelfwear. Previous owner's name on front fly. Binding is tight. Text is clean and unmarked. Dust jacket has edgewear and sunned spine.
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Editore: Shambhala, 2020
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Paperback. Condizione: Very Good. Card covers are clean, spine faintly sunned, corners bumped; binding is tight; pages are unmarked. ; 6 X 1.5 X 9 inches; 543 pages.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W.M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C.
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Hardcover. Condizione: Fair. Fourth Edition 2018. The item might be beaten up but readable. May contain markings or highlighting, as well as stains, bent corners, or any other major defect, but the text is not obscured in any way.
Selected Letters of Fyodor Dostoyevsky
Dostoyevsky, Fyodor; MacAndrew, Arthur R. (tr); Frank, Joseph (ed); Goldstein, David I. (ed)
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Hardcover. Condizione sovraccoperta: Very Good. no owners' marks; full-cloth hard cover has two very; dust jacket bears a priceclip on the front flap, a small gray; otherwise; Very Good Crisp, bright, clean small, pale spots on the front as well as some softening at spine head and top corners spot at the top right front, two sho…rt, closed surface tears along the left front edge, and some crimping at corners and spine ends well-kept. xxvi, 542pp incl. index. Jacket is now protected sleeve.
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Hardcover. Condizione: Brand New. new ed edition. 128 pages. 6.75x4.75x0.50 inches. In Stock.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I. (EDT); Newbury, Dale E.; Kchlin, Patrick; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Lifshin, Eric; Sawyer, Linda; Michael, Joseph R.
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Hardcover. Condizione: UsedGood. Hardcover; surplus library copy with the usual stampings; reference number taped to spine; wrinkle inside front board, and the indentation extends ont o a few pages; fading and edge wear to exterior; otherwise in good conditio n with clean text, tight binding.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W.M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W.M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C.
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Da: SMASS Sellers, IRVING, TX, U.S.A.SMASS Sellers
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W.M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C.
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I. (EDT); Newbury, Dale E.; Kchlin, Patrick; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Lifshin, Eric; Sawyer, Linda; Michael, Joseph R.
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W.M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C.
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W.M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W.M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C.
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