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Senri Ethnological Studies No.15 Africa 3
Editore: National Museum of Ethnology, Japan, 1984
Da: Lowry's Books, Three Rivers, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Paperback. Condizione: Very Good. No Jacket. This book is in very good condition. There is foxing on the fore edges and some corner bumping. The part of the spine that is normally brown has turned into a blue. There is some cracking at the bottom of the spine Size: 4to - over 9¾" - 12" tall.
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Senri Ethnological Studies: Africa No. 2 No.6
Editore: National Museum of Ethnology, Japan, 1980
Da: Lowry's Books, Three Rivers, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Paperback. Condizione: Very Good. No Jacket. This book is in very good condition. There is some foxing on the fore edges and some minor smudging on the covers. The pages have started to yellow slightly Size: 8vo - over 7¾" - 9¾" tall.
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Adaptive Structures: Presented at the Winter Annual Meeting of the American Society of Mechanical Engineers, San Francisco, California, December 10-15, 1989 (Ad (Series), V. 15.)
Lingua: Inglese
Editore: Amer Society of Mechanical, 1989
ISBN 10: 0791803988 ISBN 13: 9780791803981
Paperback. Condizione: New. In shrink wrap.
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Adaptive Structures: Presented at the Winter Annual Meeting of the American Society of Mechanical Engineers, San Francisco, California, December 10-15, 1989 (Ad (Series), V. 15.)
Lingua: Inglese
Editore: Amer Society of Mechanical, 1989
ISBN 10: 0791803988 ISBN 13: 9780791803981
Paperback. Condizione: New. In shrink wrap.
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Light Sensing in Plants. The Botanical Society of Japan.
Da: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Germania
Membro dell'associazione: GIAQ
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
AffareEUR 7,04
Spedizione EUR 20,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Wie neu. XVI, 370 S. : Ill. Like new. Shrink wrapped. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 900.
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ADAPTIVE STRUCTURES, Proceedings ofThird International Conference on. Volume 2040; 9-11 November, 1992; San Diego, CA. SPIE
Lingua: Inglese
Editore: SPIE PRESS-The International Society for Optical Engineering, Bellingham, WA, U.S.A., 1993
ISBN 10: 1566760283 ISBN 13: 9781566760287
Da: SUNSET BOOKS 2, Newark, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
Hardcover. Condizione: Good. No Jacket. 1st Edition. Case bound, Has all standard Library markings, pocket, labels, stamps, wear and soil to covers. CLEAN TEXT. Thank you for your purchase from Sunset Books! Help Promote World Literacy, GIVE a Book as a GIFT!! In stock, Ships from Ohio. Will not fit in Flat Rate Priority Mail envelope. USPS Variable Rate applies for Domestic or International Priority mail. WE COMBINE SHIPPING ON MULTIPLE PURCHASES!!!! Size: 4to. Ex-Library.
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Africa 3 (Senri Ethnological Studies Number 15)
Editore: National Museum of Ethnology, 1984
Da: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Very Good. 359 pp., Paperback, light wear to spine, else very good. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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THIRD INTERNATIONAL CONFERENCE ON ADAPTIVE STRUCTURES, Proceedings of the, 9-11 November 1992, San Diego, California
Lingua: Inglese
Editore: Technomic Publishing Co., Inc., Lancaster, PA, U.S.A., 1993
ISBN 10: 1566760283 ISBN 13: 9781566760287
Da: SUNSET BOOKS 2, Newark, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
Hardcover. Condizione: Very Good. No Jacket. 1st. With full markings and pocket. Any Overseas shipment will require extra funds, the amount depending on location. Casebound Size: 4to. Ex-Library.
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Mapping the Galaxy and Nearby Galaxies.
Libro 3 di 41: Astrophysics and Space Science ProceedingsDa: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Germania
Membro dell'associazione: GIAQ ILAB VDA
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 20,00
Spedizione EUR 30,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloxxviii, 392p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Stamped. Astrophysics and Space Science Proceedings. Sprache: Englisch.
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Demonstration of Spindle Membrane in Fixed Preparations of Root
Da: Clivia Mueller, Isernhagen, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 5,80
Spedizione EUR 24,10
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTip Cells in Vicia faba and Allium cepa (S. A. Liberal Arts and Sci. Fac. Shizuoka Univ. Vol. 3, No. 4) 1963. S. 185 - 192. m. zahlr. Abb. br. -2) Sonderabdruck.
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A new technique to Demonstrate the Surface Membrane of the
Da: Clivia Mueller, Isernhagen, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 5,80
Spedizione EUR 24,10
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloSpindle in Preparations (S. A. Internat. J. of Cytology Vol. 22, No. 3 - 4) 1957. S. 442 - 451. m. zahlr. Abb. br. -2) Sonderabdruck.
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Environmental Impacts of Soil Component Interactions Land Quality, Natural and Anthropogenic Organics, Volume I
Da: Boards & Wraps, Baltimore, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Prima edizione
Hardcover. Condizione: Very Good+. Condizione sovraccoperta: No Dust Jacket. First Edition. Light rubbing and toning overall, brief bumps to the spine ends and corners, and a previous owner's name plate on the front paste-down. Interior pages clean and unmarked. A tight and clean copy. Photos upon request. International shipping billed at cost.; Large 8vo 9" - 10" tall; 464 pages.
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DEFECTS AND PROPERTIES OF SEMICONDUCTORS: Defect Engineering
Lingua: Inglese
Editore: KTK Scientific Publishers, Tokyo, 1987
ISBN 10: 9027723524 ISBN 13: 9789027723529
Da: Amnesty Bookshop, Malvern, Great Malvern, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 52,42
Spedizione EUR 25,73
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHb without Dj. Condizione: Fine. First Edition. Contains nearly all the papers presented at the Symposium on "Defects and Qualities of Semiconductors" held in Tokyo in May 1984. In immaculate condition throughout. All profits to Amnesty International. Size: 15.5cm - 23.3cm with 261pp.
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Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering (Advances in Solid State Technology, 3)
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 300.
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Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering (Advances in Solid State Technology, 3)
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 74,50
Spedizione EUR 7,52
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 300 Illus.
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![Immagine del venditore per Africa 4 [Senri ethnological studies, no. 31.] venduto da Joseph Burridge Books](https://pictures.abebooks.com/inventory/md/md30026097271.jpg)
Africa 4 [Senri ethnological studies, no. 31.]
Editore: Osaka : National Museum of Ethnology, 1992
Da: Joseph Burridge Books, Dagenham, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 23,83
Spedizione EUR 26,60
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloSoft cover. Condizione: Fair. v, 534 pages : illustrations, maps ; 26 cm. English and French. water damaged. pages are warped.
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The Behaviour of Outer Mantle Epithelial Cells Implanted into the Mantle Connective Tissue of the Freshwater Mussle, Hyriopsis schlegeli
Data di pubblicazione: 1995
EUR 5,75
Spedizione EUR 24,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrello10 pp., 6 figs, gr. 8.
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Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering (Advances in Solid State Technology, 3)
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 75,06
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 300.
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Advances in Soil Science: Vol 2
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 78,34
Spedizione EUR 11,57
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 235 pages. 9.00x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering (Advances in Solid State Technology)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 78,81
Spedizione EUR 13,86
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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LIGHT SENSING IN PLANTS
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Cultured pearls - commercialised biomineralisation. In 4°, offp., pp. 6 with 11 figs.
Data di pubblicazione: 1980
Da: Riccardo Giannuzzi Savelli, Palermo, PA, Italia
Valutazione del venditore 2 su 5 stelle
EUR 4,00
Spedizione EUR 30,00
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrello -
Edizione InternazionaleMAPPING THE GALAXY AND NEARBY GALAXIES (HB)
Libro 3 di 41: Astrophysics and Space Science ProceedingsDa: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 113,25
Spedizione EUR 6,93
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Brand New! Fast Delivery This is an International Edition and ship within 24-48 hours. Deliver by FedEx and Dhl, & Aramex, UPS, & USPS and we do accept APO and PO BOX Addresses. Order can be delivered worldwide within 6-10 days and we do have flat rate for up to 2LB. Extra shipping charges will be requested if the Book weight is more than 5 LB. This Item May be shipped from India, United states & United Kingdom. Depending on your location and availability.
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Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering
Lingua: Inglese
Editore: D. Reidel Publishing Company, 2013
ISBN 10: 9401086168 ISBN 13: 9789401086165
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 112,28
Spedizione EUR 11,57
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 272 pages. 9.02x5.99x0.62 inches. In Stock.
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Advances in Quantum Flux Parametron Computer Design
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Pub Co Inc, 1992
ISBN 10: 981020826X ISBN 13: 9789810208264
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 124,69
Spedizione EUR 14,46
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 340 pages. 9.41x6.26x0.91 inches. In Stock.
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EUR 68,45
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Defects and Properties of Semiconductors | Defect Engineering | J. Chikawa (u. a.) | Taschenbuch | Advances in Solid State Technology | 300 S. | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9789401086165 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Sea Volume 6 No. 8
Editore: Chuokoronsha, 1974
Da: Sunny Day Bookstore, SINGAPORE, Singapore
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 53,61
Spedizione EUR 13,01
Spedito da Singapore a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Fine. The book is in fine condition.
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Design No. 8 (Vol. 124) Special feature Changes in graphic design 2
Editore: Bijutsu Shuppan-Sha Co. Ltd., 1969
Da: Sunny Day Bookstore, SINGAPORE, Singapore
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 53,61
Spedizione EUR 13,01
Spedito da Singapore a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Fine. Size: 29.4x22.6x0.9cm. 126 pages Number of books: 1 book.
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Design No. 8 (Vol. 124) Special feature Changes in graphic design 2
Editore: Bijutsu shubbansha, 1969
Da: Sunny Day Bookstore, SINGAPORE, Singapore
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 53,61
Spedizione EUR 13,01
Spedito da Singapore a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Fine. Size: 29.4x22.6x0.9cm. 126 pages Number of books: 1 book.
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Defects and Properties of Semiconductors : Defect Engineering
Lingua: Inglese
Editore: Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2011
ISBN 10: 9401086168 ISBN 13: 9789401086165
EUR 80,15
Spedizione EUR 62,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This volume contains nearly all of the papers presented at the Symposium on 'Defects and Qualities of Semiconductors' which was held in Tokyo on May 17-18, 1984, under the sponsorship of the SOCIETY OF NON-TRADITIONAL TECHNOLOGY. The Symposium was organized by the promoting committee of the research project 'Quality Developement of Semiconductors by Utilization of Crystal Defects' sponsored by the Science and Technology Agency of Japan. Defect study in semiconductor engineering started originally with seeking methods how to suppress generation of harmful defects during device processing in order to achieve a high yield of device fabrication. Recently, a new trend has appeared in which crystal defects are positively utilized to improve the device performance and reliability. A typical example is the intrinsic gettering technique for Czochralski silicon. Thus, a new term 'DEFECT ENGINEERING' was born. It is becoming more important to control density and distribution of defects than to eliminate all the defects. Very precise and deep knowledge on defects is required to establish such techniques as generation and development of defects desired depending on type of devices and degree of integration. Electrical, optical and mechanical effects of defects should be also understood correctly. Such knowledge is essential even for eliminating defects from some specified device regions. It is the time now to investigate defect properties and defect kinetics in an energetic way. From this point of view, all the speakers in this symposium were invited among the most active investigators in the field of defect engineering in Japan.
