keyur mahant (30 risultati)

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Taschenbuch. Condizione: Neu. Space Radiation Monitoring Instrumentation | Keyur Mahant (u. a.) | Taschenbuch | 56 S. | Englisch | 2018 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9786136718255 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.

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Taschenbuch. Condizione: Neu. Instrumentación de control de la radiación espacial | Keyur Mahant (u. a.) | Taschenbuch | Spanisch | 2022 | Ediciones Nuestro Conocimiento | EAN 9786205308929 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.

Taschenbuch. Condizione: Neu. Instruments de contrôle des radiations dans l'espace | Keyur Mahant (u. a.) | Taschenbuch | Französisch | 2022 | Editions Notre Savoir | EAN 9786205308912 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.

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Taschenbuch. Condizione: Neu. Instrumentação de Monitorização da Radiação Espacial | Keyur Mahant (u. a.) | Taschenbuch | Portugiesisch | 2022 | Edições Nosso Conhecimento | EAN 9786205308882 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.

Taschenbuch. Condizione: Neu. Strumentazione per il monitoraggio delle radiazioni nello spazio | Keyur Mahant (u. a.) | Taschenbuch | Italienisch | 2022 | Edizioni Sapienza | EAN 9786205308899 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.

Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The charged particles can cause adverse effects on spacecraft and electronics components. Radiation effects from high energy particles cause spacecraft surface charging, degradation or permanent failure of the electronic components and sub systems by single event effects, displacement damages and ionizing dose effects in the spacecraft. The effects of ion-induced charge transients can be divided in the basic three categories: Total ionizing dose (TID), linear energy transfer (LET) and Single event upset (SEU).TID effect is accumulation of ionizing energy deposited over a long period on semiconductor materials. TID occurs mostly due to the electrons and protons, which can cause failure of device. The total energy loss or transfer to the material per unit distance of travel trough the material is called LET Electronic devices can be disturbed by the passage of energetic electrons, protons or heavier ions that may alter the state of a circuit, producing 'single event effects'. SEU and multiple-bit upset (MBU) which change the logic state of internal nodes of the circuit. It can be reset by different electrical operations. These errors are called soft errors which are recoverable. 56 pp. Englisch.

Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Las partículas cargadas pueden causar efectos adversos en las naves espaciales y en los componentes electrónicos. Los efectos de la radiación de las partículas de alta energía provocan la carga de la superficie de la nave espacial, la degradación o el fallo permanente de los componentes y subsistemas electrónicos por efectos de evento único, daños por desplazamiento y efectos de dosis ionizantes en la nave espacial. Los efectos de los transitorios de carga inducidos por iones pueden dividirse en las tres categorías básicas: Dosis ionizante total (TID), transferencia de energía lineal (LET) y perturbación por un solo evento (SEU).El efecto TID es la acumulación de energía ionizante depositada durante un largo período en los materiales semiconductores. El TID se produce principalmente debido a los electrones y protones, que pueden causar el fallo del dispositivo. La pérdida o transferencia total de energía al material por unidad de distancia de viaje a través del material se denomina LET Los dispositivos electrónicos pueden ser perturbados por el paso de electrones energéticos, protones o iones más pesados que pueden alterar el estado de un circuito, produciendo 'efectos de evento único'. SEU y alteración de múltiples bits (MBU) que cambian el estado lógico de los nodos internos del circuito. Pueden restablecerse mediante diferentes operaciones eléctricas. Estos errores se denominan errores blandos y son recuperables. 52 pp. Spanisch.

Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Les particules chargées peuvent avoir des effets néfastes sur les engins spatiaux et les composants électroniques. Les effets du rayonnement des particules à haute énergie provoquent la charge de la surface du vaisseau spatial, la dégradation ou la défaillance permanente des composants et sous-systèmes électroniques par des effets d'événement unique, des dommages de déplacement et des effets de dose ionisante dans le vaisseau spatial. Les effets des transitoires de charge induits par les ions peuvent être divisés en trois catégories de base : La dose ionisante totale (TID), le transfert d'énergie linéaire (LET) et les perturbations dues à un événement unique (SEU).L'effet TID est une accumulation d'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. L'effet TID est l'accumulation de l'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. La perte ou le transfert total d'énergie vers le matériau par unité de distance de parcours à travers le matériau est appelé TLE Les dispositifs électroniques peuvent être perturbés par le passage d'électrons énergétiques, de protons ou d'ions plus lourds qui peuvent modifier l'état d'un circuit, produisant des 'effets d'événement unique'. SEU et multiple-bit upset (MBU) qui modifient l'état logique des noeuds internes du circuit. Elles peuvent être réinitialisées par différentes opérations électriques. Ces erreurs sont appelées soft errors et sont récupérables. 52 pp. Französisch.

Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The charged particles can cause adverse effects on spacecraft and electronics components. Radiation effects from high energy particles cause spacecraft surface charging, degradation or permanent failure of the electronic components and sub systems by single event effects, displacement damages and ionizing dose effects in the spacecraft. The effects of ion-induced charge transients can be divided in the basic three categories: Total ionizing dose (TID), linear energy transfer (LET) and Single event upset (SEU).TID effect is accumulation of ionizing energy deposited over a long period on semiconductor materials. TID occurs mostly due to the electrons and protons, which can cause failure of device. The total energy loss or transfer to the material per unit distance of travel trough the material is called LET Electronic devices can be disturbed by the passage of energetic electrons, protons or heavier ions that may alter the state of a circuit, producing 'single event effects'. SEU and multiple-bit upset (MBU) which change the logic state of internal nodes of the circuit. It can be reset by different electrical operations. These errors are called soft errors which are recoverable.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 56 pp. Englisch.

Taschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The charged particles can cause adverse effects on spacecraft and electronics components. Radiation effects from high energy particles cause spacecraft surface charging, degradation or permanent failure of the electronic components and sub systems by single event effects, displacement damages and ionizing dose effects in the spacecraft. The effects of ion-induced charge transients can be divided in the basic three categories: Total ionizing dose (TID), linear energy transfer (LET) and Single event upset (SEU).TID effect is accumulation of ionizing energy deposited over a long period on semiconductor materials. TID occurs mostly due to the electrons and protons, which can cause failure of device. The total energy loss or transfer to the material per unit distance of travel trough the material is called LET Electronic devices can be disturbed by the passage of energetic electrons, protons or heavier ions that may alter the state of a circuit, producing 'single event effects'. SEU and multiple-bit upset (MBU) which change the logic state of internal nodes of the circuit. It can be reset by different electrical operations. These errors are called soft errors which are recoverable.

Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Las partículas cargadas pueden causar efectos adversos en las naves espaciales y en los componentes electrónicos. Los efectos de la radiación de las partículas de alta energía provocan la carga de la superficie de la nave espacial, la degradación o el fallo permanente de los componentes y subsistemas electrónicos por efectos de evento único, daños por desplazamiento y efectos de dosis ionizantes en la nave espacial. Los efectos de los transitorios de carga inducidos por iones pueden dividirse en las tres categorías básicas: Dosis ionizante total (TID), transferencia de energía lineal (LET) y perturbación por un solo evento (SEU).El efecto TID es la acumulación de energía ionizante depositada durante un largo período en los materiales semiconductores. El TID se produce principalmente debido a los electrones y protones, que pueden causar el fallo del dispositivo. La pérdida o transferencia total de energía al material por unidad de distancia de viaje a través del material se denomina LET Los dispositivos electrónicos pueden ser perturbados por el paso de electrones energéticos, protones o iones más pesados que pueden alterar el estado de un circuito, produciendo 'efectos de evento único'. SEU y alteración de múltiples bits (MBU) que cambian el estado lógico de los nodos internos del circuito. Pueden restablecerse mediante diferentes operaciones eléctricas. Estos errores se denominan errores blandos y son recuperables.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 52 pp. Spanisch.

Taschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Las partículas cargadas pueden causar efectos adversos en las naves espaciales y en los componentes electrónicos. Los efectos de la radiación de las partículas de alta energía provocan la carga de la superficie de la nave espacial, la degradación o el fallo permanente de los componentes y subsistemas electrónicos por efectos de evento único, daños por desplazamiento y efectos de dosis ionizantes en la nave espacial. Los efectos de los transitorios de carga inducidos por iones pueden dividirse en las tres categorías básicas: Dosis ionizante total (TID), transferencia de energía lineal (LET) y perturbación por un solo evento (SEU).El efecto TID es la acumulación de energía ionizante depositada durante un largo período en los materiales semiconductores. El TID se produce principalmente debido a los electrones y protones, que pueden causar el fallo del dispositivo. La pérdida o transferencia total de energía al material por unidad de distancia de viaje a través del material se denomina LET Los dispositivos electrónicos pueden ser perturbados por el paso de electrones energéticos, protones o iones más pesados que pueden alterar el estado de un circuito, produciendo 'efectos de evento único'. SEU y alteración de múltiples bits (MBU) que cambian el estado lógico de los nodos internos del circuito. Pueden restablecerse mediante diferentes operaciones eléctricas. Estos errores se denominan errores blandos y son recuperables.

Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Die geladenen Teilchen können nachteilige Auswirkungen auf Raumfahrzeuge und elektronische Komponenten haben. Die Strahlungseffekte hochenergetischer Teilchen führen zur Aufladung der Oberfläche von Raumfahrzeugen, zur Beeinträchtigung oder zum dauerhaften Versagen elektronischer Komponenten und Subsysteme durch Einzeleffekte, Verlagerungsschäden und Auswirkungen ionisierender Dosen im Raumfahrzeug. Die Auswirkungen von ioneninduzierten Ladungstransienten können in drei grundlegende Kategorien unterteilt werden: Gesamtionisierungsdosis (TID), linearer Energietransfer (LET) und Einzelereignisstörung (SEU).TID-Effekt ist die Akkumulation von ionisierender Energie, die über einen langen Zeitraum auf Halbleitermaterialien einwirkt. TID tritt vor allem durch Elektronen und Protonen auf, was zum Ausfall des Geräts führen kann. Der gesamte Energieverlust oder -transfer in das Material pro Einheitsdistanz wird als LET bezeichnet. Elektronische Geräte können durch den Durchgang von energiereichen Elektronen, Protonen oder schwereren Ionen gestört werden, die den Zustand eines Schaltkreises verändern und 'Einzeleffekte' erzeugen können. SEU und Multiple-Bit-Upset (MBU), die den logischen Zustand interner Knoten des Schaltkreises verändern. Sie können durch verschiedene elektrische Operationen zurückgesetzt werden. Diese Fehler werden als weiche Fehler bezeichnet, die wiederherstellbar sind. 52 pp. Deutsch.

Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Le particelle cariche possono causare effetti negativi sui veicoli spaziali e sui componenti elettronici. Gli effetti delle radiazioni delle particelle ad alta energia causano la carica della superficie del veicolo spaziale, il degrado o il guasto permanente dei componenti elettronici e dei sottosistemi per effetto di singoli eventi, danni da spostamento ed effetti di dose ionizzante nel veicolo spaziale. Gli effetti dei transitori di carica indotti dagli ioni possono essere suddivisi nelle tre categorie fondamentali: L'effetto TID è l'accumulo di energia ionizzante depositata per un lungo periodo sui materiali semiconduttori. Il TID si verifica soprattutto a causa degli elettroni e dei protoni, che possono causare il guasto del dispositivo. La perdita totale di energia o il trasferimento al materiale per unità di distanza di viaggio attraverso il materiale è chiamata LET I dispositivi elettronici possono essere disturbati dal passaggio di elettroni energetici, protoni o ioni più pesanti che possono alterare lo stato di un circuito, producendo 'effetti di evento singolo'. SEU e multiple-bit upset (MBU) che modificano lo stato logico dei nodi interni del circuito. Possono essere ripristinati con diverse operazioni elettriche. Questi errori sono chiamati errori morbidi e sono recuperabili. 52 pp. Italienisch.

Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -As partículas carregadas podem causar efeitos adversos nas naves espaciais e nos componentes electrónicos. Os efeitos de radiação das partículas de alta energia causam carga superficial da nave espacial, degradação ou falha permanente dos componentes electrónicos e dos sub sistemas por efeitos de evento único, danos de deslocamento e efeitos de dose ionizante na nave espacial. Os efeitos de transientes de carga induzidos por iões podem ser divididos nas três categorias básicas: Dose ionizante total (TID), transferência linear de energia (LET) e perturbação por evento único (SEU). O efeito TID é a acumulação de energia ionizante depositada durante um longo período sobre materiais semicondutores. A TID ocorre principalmente devido aos electrões e prótons, o que pode causar falha do dispositivo. A perda ou transferência total de energia para o material por unidade de distância de viagem através do material é chamada LET Os dispositivos electrónicos podem ser perturbados pela passagem de electrões energéticos, prótons ou iões mais pesados que podem alterar o estado de um circuito, produzindo 'efeitos de evento único'. SEU e perturbações de múltiplos bits (MBU) que alteram o estado lógico dos nós internos do circuito. Pode ser reposto por diferentes operações eléctricas. Estes erros são chamados soft errors, que são recuperáveis. 52 pp. Portugiesisch.

Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Les particules chargées peuvent avoir des effets néfastes sur les engins spatiaux et les composants électroniques. Les effets du rayonnement des particules à haute énergie provoquent la charge de la surface du vaisseau spatial, la dégradation ou la défaillance permanente des composants et sous-systèmes électroniques par des effets d'événement unique, des dommages de déplacement et des effets de dose ionisante dans le vaisseau spatial. Les effets des transitoires de charge induits par les ions peuvent être divisés en trois catégories de base : La dose ionisante totale (TID), le transfert d'énergie linéaire (LET) et les perturbations dues à un événement unique (SEU).L'effet TID est une accumulation d'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. L'effet TID est l'accumulation de l'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. La perte ou le transfert total d'énergie vers le matériau par unité de distance de parcours à travers le matériau est appelé TLE Les dispositifs électroniques peuvent être perturbés par le passage d'électrons énergétiques, de protons ou d'ions plus lourds qui peuvent modifier l'état d'un circuit, produisant des 'effets d'événement unique'. SEU et multiple-bit upset (MBU) qui modifient l'état logique des nuds internes du circuit. Elles peuvent être réinitialisées par différentes opérations électriques. Ces erreurs sont appelées soft errors et sont récupérables.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 52 pp. Französisch.

Taschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Les particules chargées peuvent avoir des effets néfastes sur les engins spatiaux et les composants électroniques. Les effets du rayonnement des particules à haute énergie provoquent la charge de la surface du vaisseau spatial, la dégradation ou la défaillance permanente des composants et sous-systèmes électroniques par des effets d'événement unique, des dommages de déplacement et des effets de dose ionisante dans le vaisseau spatial. Les effets des transitoires de charge induits par les ions peuvent être divisés en trois catégories de base : La dose ionisante totale (TID), le transfert d'énergie linéaire (LET) et les perturbations dues à un événement unique (SEU).L'effet TID est une accumulation d'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. L'effet TID est l'accumulation de l'énergie ionisante déposée sur une longue période sur les matériaux semi-conducteurs. La perte ou le transfert total d'énergie vers le matériau par unité de distance de parcours à travers le matériau est appelé TLE Les dispositifs électroniques peuvent être perturbés par le passage d'électrons énergétiques, de protons ou d'ions plus lourds qui peuvent modifier l'état d'un circuit, produisant des 'effets d'événement unique'. SEU et multiple-bit upset (MBU) qui modifient l'état logique des noeuds internes du circuit. Elles peuvent être réinitialisées par différentes opérations électriques. Ces erreurs sont appelées soft errors et sont récupérables.

Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Autor/Autorin: Mahant KeyurKeyur Mahant wurde am 2. August 1986 in Cambay, Indien, geboren. Er erwarb 2008 den B.Tech in Elektronik und Kommunikation am C U Shah College of Engineering and Technology, Indien. Ausserdem erwarb er 2011 den M.Tech in K.

Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -As partículas carregadas podem causar efeitos adversos nas naves espaciais e nos componentes electrónicos. Os efeitos de radiação das partículas de alta energia causam carga superficial da nave espacial, degradação ou falha permanente dos componentes electrónicos e dos sub sistemas por efeitos de evento único, danos de deslocamento e efeitos de dose ionizante na nave espacial. Os efeitos de transientes de carga induzidos por iões podem ser divididos nas três categorias básicas: Dose ionizante total (TID), transferência linear de energia (LET) e perturbação por evento único (SEU). O efeito TID é a acumulação de energia ionizante depositada durante um longo período sobre materiais semicondutores. A TID ocorre principalmente devido aos electrões e prótons, o que pode causar falha do dispositivo. A perda ou transferência total de energia para o material por unidade de distância de viagem através do material é chamada LET Os dispositivos electrónicos podem ser perturbados pela passagem de electrões energéticos, prótons ou iões mais pesados que podem alterar o estado de um circuito, produzindo 'efeitos de evento único'. SEU e perturbações de múltiplos bits (MBU) que alteram o estado lógico dos nós internos do circuito. Pode ser reposto por diferentes operações eléctricas. Estes erros são chamados soft errors, que são recuperáveis.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 52 pp. Portugiesisch.

Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Le particelle cariche possono causare effetti negativi sui veicoli spaziali e sui componenti elettronici. Gli effetti delle radiazioni delle particelle ad alta energia causano la carica della superficie del veicolo spaziale, il degrado o il guasto permanente dei componenti elettronici e dei sottosistemi per effetto di singoli eventi, danni da spostamento ed effetti di dose ionizzante nel veicolo spaziale. Gli effetti dei transitori di carica indotti dagli ioni possono essere suddivisi nelle tre categorie fondamentali: L'effetto TID è l'accumulo di energia ionizzante depositata per un lungo periodo sui materiali semiconduttori. Il TID si verifica soprattutto a causa degli elettroni e dei protoni, che possono causare il guasto del dispositivo. La perdita totale di energia o il trasferimento al materiale per unità di distanza di viaggio attraverso il materiale è chiamata LET I dispositivi elettronici possono essere disturbati dal passaggio di elettroni energetici, protoni o ioni più pesanti che possono alterare lo stato di un circuito, producendo 'effetti di evento singolo'. SEU e multiple-bit upset (MBU) che modificano lo stato logico dei nodi interni del circuito. Possono essere ripristinati con diverse operazioni elettriche. Questi errori sono chiamati errori morbidi e sono recuperabili.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 52 pp. Italienisch.

Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Die geladenen Teilchen können nachteilige Auswirkungen auf Raumfahrzeuge und elektronische Komponenten haben. Die Strahlungseffekte hochenergetischer Teilchen führen zur Aufladung der Oberfläche von Raumfahrzeugen, zur Beeinträchtigung oder zum dauerhaften Versagen elektronischer Komponenten und Subsysteme durch Einzeleffekte, Verlagerungsschäden und Auswirkungen ionisierender Dosen im Raumfahrzeug. Die Auswirkungen von ioneninduzierten Ladungstransienten können in drei grundlegende Kategorien unterteilt werden: Gesamtionisierungsdosis (TID), linearer Energietransfer (LET) und Einzelereignisstörung (SEU).TID-Effekt ist die Akkumulation von ionisierender Energie, die über einen langen Zeitraum auf Halbleitermaterialien einwirkt. TID tritt vor allem durch Elektronen und Protonen auf, was zum Ausfall des Geräts führen kann. Der gesamte Energieverlust oder -transfer in das Material pro Einheitsdistanz wird als LET bezeichnet. Elektronische Geräte können durch den Durchgang von energiereichen Elektronen, Protonen oder schwereren Ionen gestört werden, die den Zustand eines Schaltkreises verändern und 'Einzeleffekte' erzeugen können. SEU und Multiple-Bit-Upset (MBU), die den logischen Zustand interner Knoten des Schaltkreises verändern. Sie können durch verschiedene elektrische Operationen zurückgesetzt werden. Diese Fehler werden als weiche Fehler bezeichnet, die wiederherstellbar sind.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 52 pp. Deutsch.

Taschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Die geladenen Teilchen können nachteilige Auswirkungen auf Raumfahrzeuge und elektronische Komponenten haben. Die Strahlungseffekte hochenergetischer Teilchen führen zur Aufladung der Oberfläche von Raumfahrzeugen, zur Beeinträchtigung oder zum dauerhaften Versagen elektronischer Komponenten und Subsysteme durch Einzeleffekte, Verlagerungsschäden und Auswirkungen ionisierender Dosen im Raumfahrzeug. Die Auswirkungen von ioneninduzierten Ladungstransienten können in drei grundlegende Kategorien unterteilt werden: Gesamtionisierungsdosis (TID), linearer Energietransfer (LET) und Einzelereignisstörung (SEU).TID-Effekt ist die Akkumulation von ionisierender Energie, die über einen langen Zeitraum auf Halbleitermaterialien einwirkt. TID tritt vor allem durch Elektronen und Protonen auf, was zum Ausfall des Geräts führen kann. Der gesamte Energieverlust oder -transfer in das Material pro Einheitsdistanz wird als LET bezeichnet. Elektronische Geräte können durch den Durchgang von energiereichen Elektronen, Protonen oder schwereren Ionen gestört werden, die den Zustand eines Schaltkreises verändern und 'Einzeleffekte' erzeugen können. SEU und Multiple-Bit-Upset (MBU), die den logischen Zustand interner Knoten des Schaltkreises verändern. Sie können durch verschiedene elektrische Operationen zurückgesetzt werden. Diese Fehler werden als weiche Fehler bezeichnet, die wiederherstellbar sind.

Taschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - As partículas carregadas podem causar efeitos adversos nas naves espaciais e nos componentes electrónicos. Os efeitos de radiação das partículas de alta energia causam carga superficial da nave espacial, degradação ou falha permanente dos componentes electrónicos e dos sub sistemas por efeitos de evento único, danos de deslocamento e efeitos de dose ionizante na nave espacial. Os efeitos de transientes de carga induzidos por iões podem ser divididos nas três categorias básicas: Dose ionizante total (TID), transferência linear de energia (LET) e perturbação por evento único (SEU). O efeito TID é a acumulação de energia ionizante depositada durante um longo período sobre materiais semicondutores. A TID ocorre principalmente devido aos electrões e prótons, o que pode causar falha do dispositivo. A perda ou transferência total de energia para o material por unidade de distância de viagem através do material é chamada LET Os dispositivos electrónicos podem ser perturbados pela passagem de electrões energéticos, prótons ou iões mais pesados que podem alterar o estado de um circuito, produzindo 'efeitos de evento único'. SEU e perturbações de múltiplos bits (MBU) que alteram o estado lógico dos nós internos do circuito. Pode ser reposto por diferentes operações eléctricas. Estes erros são chamados soft errors, que são recuperáveis.

Taschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Le particelle cariche possono causare effetti negativi sui veicoli spaziali e sui componenti elettronici. Gli effetti delle radiazioni delle particelle ad alta energia causano la carica della superficie del veicolo spaziale, il degrado o il guasto permanente dei componenti elettronici e dei sottosistemi per effetto di singoli eventi, danni da spostamento ed effetti di dose ionizzante nel veicolo spaziale. Gli effetti dei transitori di carica indotti dagli ioni possono essere suddivisi nelle tre categorie fondamentali: L'effetto TID è l'accumulo di energia ionizzante depositata per un lungo periodo sui materiali semiconduttori. Il TID si verifica soprattutto a causa degli elettroni e dei protoni, che possono causare il guasto del dispositivo. La perdita totale di energia o il trasferimento al materiale per unità di distanza di viaggio attraverso il materiale è chiamata LET I dispositivi elettronici possono essere disturbati dal passaggio di elettroni energetici, protoni o ioni più pesanti che possono alterare lo stato di un circuito, producendo 'effetti di evento singolo'. SEU e multiple-bit upset (MBU) che modificano lo stato logico dei nodi interni del circuito. Possono essere ripristinati con diverse operazioni elettriche. Questi errori sono chiamati errori morbidi e sono recuperabili.