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-
Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach (Microsystems)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,46
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
EUR 136,16
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides solutions to several common reliability issues in microsystem packagingTeaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materialsCombines thermodynamic-diffusion kinetic model.
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