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Neural Information Processing : 18th International Conference, Iconip 2ß11, Shanghai, China, November 13-17, 2011, Proceedings, Part II

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Neural Information Processing : 18th International Conference, ICONIP 2011, Shanghai, China, November 13-17, 2011, Proceedings, Part III

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Neural Information Processing : 18th International Conference, ICONIP 2011, Shanghai, China, November 13-17, 2011, Proceedings, Part III

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Neural Information Processing : 18th International Conference, Iconip 2011, Shanghai, China, November 13-17, 2011, Proceedings

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Advances in Neural Networks-ISNN 2010 : 7th International Symposium on Neutral Networks, ISNN 2010, Shanghai, China, June 6-9, 2010, Proceedings

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Advances in Neural Networks-ISNN 2010 : 7th International Symposium on Neutral Networks, ISNN 2010, Shanghai, China, June 6-9, 2010, Proceedings

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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

Lingua: Inglese

Editore: Springer, 2006

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Advances in Neural Networks-ISNN 2010 : 7th International Symposium on Neutral Networks, ISNN 2010, Shanghai, China, June 6-9, 2010, Proceedings

Lingua: Inglese

Editore: Springer, 2010

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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

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Editore: Springer, 2006

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Advances in Neural Networks-ISNN 2010 : 7th International Symposium on Neutral Networks, ISNN 2010, Shanghai, China, June 6-9, 2010, Proceedings

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Editore: Springer, 2010

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Challenges In Information Technology Management

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Challenges In Information Technology Management

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Editore: World Scientific Publishing Company, 2008

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Challenges In Information Technology Management

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Editore: World Scientific Publishing Company, 2008

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Chan, Man Chung (EDT); Cheung, Ronnie (EDT); Liu, James N. K. (EDT)

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Challenges In Information Technology Management

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Editore: World Scientific Publishing Company, 2008

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Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)

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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

Lingua: Inglese

Editore: Springer, 2006

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Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)

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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

Lingua: Inglese

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