Lawrence c wagner (43 risultati)
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King County Collects : Treasures of Our Historical Organizations
Chaney, John (FRW); Wagner, Dick (CON); Munro, Ralph (CON); Kreisman, Lawrence (CON); Henry, Mary T. (CON)
Lingua: Inglese
Editore: Association of King County Historical Organizations, 2014
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Editore: Thieme Medical Pub, New York, New York, U.S.A., 1990
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Hard Cover. Condizione: Very Good Hardcover. No Dustjacket. First Edition. an ex-hospital copy with minimal markings; pages white and bright; ---------- SATISFACTION GUARANTEED --------- FAST, COURTEOUS SERVICE ------ ALL DUSTJACKETS ARE COVERED WITH NEW CLEAR MYLAR PROTECTOR ----- Size: 7 x 10". Illustrated Throughout (illustra…tore). Ex-Library.
King County Collects : Treasures of Our Historical Organizations
Chaney, John (FRW); Wagner, Dick (CON); Munro, Ralph (CON); Kreisman, Lawrence (CON); Henry, Mary T. (CON)
Lingua: Inglese
Editore: Association of King County Historical Organizations, 2014
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Essays Offered to Herbert Putnam by His Colleagues and Friends on His Thirtieth Anniversary as Librarian of Congress, 5 April 1929
Bishop, William Warner; & Andrew Keogh; (editors); Lawrence C. Wroth, Henry R. Wagner, George Watson Cole, J. Christian Bay, R. G. Adams, R Harry Miller Lydenberg, Worthington Chauncey Ford,. R. Bowker, Louis R. Wilson, Oscar G. Sonneck, Allen Johnson
Editore: Books for Libraries, Inc., Freeport, New York, 1967
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Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Near Fine condition. No jacket, as issued. Facsimile reprint of the 1929 edition. Freeport, New York: Books for Libraries, Inc., 1967. Appears unread. Near Fine. Condition would be FINE but for traces of tiny brown speckles (light foxing) to edges of the text block (as usual with this edition). NOT a libra…ry discard. Square and tight. Sharp corners. NO owner's name or bookplate. NO remainder mark. Text is clean and crisp, with NO foxing -- apparently never read. Hardcover. Facsimile reprint of the 1929 edition that was limited to just 600 copies. Illustrated with 5 portraits of Herbert Putnam and two maps. A book about books. This festschrift is crammed with useful and fascinating contributions by Lawrence C. Wroth, Louis R. Wilson, Henry R. Wagner, Oscar G. Sonneck, Harry Miller Lydenberg, Allen Johnson, Lucius Lee Hubbard, Worthington Chauncey Ford, George Watson Cole, J. Christian Bay, R. G. Adams, R. R. Bowker, etc. It includes essays on: Revolutionary War - Fort Moultrie; Tom Sawyer; Early Printed Laws of Massachusetts; Did Columbus Discover Tobago?; Franklin in France; Goethe's Letter to Joseph Green Cogswell; Boston Years of Dr W. F. Poole; Musicology in America; Portolan Atlases; Maryland Colonization Tracts; etc. Bound in the original beige cloth, lettered in black on the spine. Facsimile reprint of the 1929 edition. Hardcover. Near Fine condition/No jacket, as issued. 8vo. x, 555pp.
THE YEAR'S BEST HORROR STORIES: Series XII (12) (Twelve)
Wagner, Karl Edward (editor) (Stephen King; David Drake; Jane Yolen; Ramsey Campbell; Juleen Brantingham; Tanith Lee; Al Sarrantonio; David Langford; Jon Wynne-Tyson; Roger Johnson; Vincent McHardy; Lawrence C. Connolly; Malcolm Edwards; Frances Garfield; Billy Wolfenbarger; David J. Schow; Susan Casper; Scott Bradfield)
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Soft cover. Condizione: Very Good. 1st Edition. DAW Collector's Book 603. Light edge and corner wear with a flat uncreased spine; no interior markings. Cover art by Vincente Segrelles. This anthology contains: Introduction by Karl Edward Wagner; Uncle Otto's Truck by Stephen King; Out of Africa by David Drake; Names by Jane Yole…n; Just Waiting ;by Ramsey Campbell; The Ventriloquist's Daughter by Juleen Brantingham; Elle Est Trois (La Mort) by Tanith Lee; The Man with Legs by Al Sarrantonio; 3:47 AM by David Langford; Mistral by Jon Wynne-Tyson; The Wall-Painting by Roger Johnson; Keepsake by Vincent McHardy; Echoes by Lawrence C. Connolly; After-Images by Malcolm Edwards; Come to the Party by Frances Garfield; The Attic by Billy Wolfenbarger; One for the Horrors by David J. Schow; Spring-Fingered Jack by Susan Casper; and The Flash! Kid by Scott Bradfield. Vincente Segrelles; (illustratore). Book.
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Essays Offered to Herbert Putnam by His Colleagues and Friends on His Thirtieth Anniversary as Librarian of Congress, 5 April 1929
Bishop, William Warner; & Andrew Keogh; (editors); Lawrence C. Wroth, Henry R. Wagner, George Watson Cole, J. Christian Bay, R. G. Adams, R Harry Miller Lydenberg, Worthington Chauncey Ford,. R. Bowker, Louis R. Wilson, Oscar G. Sonneck, Allen Johnson
Editore: Yale University Press, New Haven, Connecticut, 1929
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Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Very Good condition. First Edition, Limited to 600 copies. New Haven, Connecticut: Yale University Press, 1929. Very Good condition. 1929 First Edition. Limited to 600 copies. NOT a library discard. Square and tight. NO owner's name or bookplate. Text is clean and crisp, with NO foxing. Hardcover. Illustra…ted with 5 portraits of Herbert Putnam and two maps. A book about books. This festschrift is crammed with useful and fascinating contributions by Lawrence C. Wroth, Louis R. Wilson, Henry R. Wagner, Oscar G. Sonneck, Harry Miller Lydenberg, Allen Johnson, Lucius Lee Hubbard, Worthington Chauncey Ford, George Watson Cole, J. Christian Bay, R. G. Adams, R. R. Bowker, etc. It includes essays on: Revolutionary War - Fort Moultrie; Tom Sawyer; Early Printed Laws of Massachusetts; Did Columbus Discover Tobago?; Franklin in France; Goethe's Letter to Joseph Green Cogswell; Boston Years of Dr W. F. Poole; Musicology in America; Portolan Atlases; Maryland Colonization Tracts; etc. Typography by Carl Purington Rollins. Bound in the original gilt-stamped blue cloth. First Edition, Limited to 600 copies. Hardcover. Very Good condition. 8vo. x, 555pp.
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1999
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Editore: Springer, 2012
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Editore: Springer, 1999
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Editore: Springer, 1999
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.BennettBooksLtd
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1999
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Editore: Springer, 2012
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Condizione: New. pp. 272.
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Editore: Springer, 1999
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Condizione: New. pp. 276.
Altre immaginiLingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Failure Analysis of Integrated Circuits | Tools and Techniques | Lawrence C. Wagner | Taschenbuch | The Springer International Series in Engineering and Computer Science | xiii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461372318 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr.…17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Lingua: Inglese
Editore: Chapman and Hall, 1999
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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Condizione: New. Provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. This book also includes the coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Edit…or(s): Wagner, Lawrence C. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 255 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 17. Weight in Grams: 565. . 1999. 1999th Edition. hardcover. . . . .
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1999
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Da: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, GermaniaBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
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Condizione: gut. 1999. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494, Band 494) In englischer Sprache. pages.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer, 2012
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 62,09 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in i…ntegrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer, 1999
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 62,91 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrat…ed circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.
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Editore: Chapman and Hall, 1999
Serie: Libro 195 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.Kennys Bookstore
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Condizione: New. Provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. This book also includes the coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Edit…or(s): Wagner, Lawrence C. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 255 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 17. Weight in Grams: 565. . 1999. 1999th Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Editore: Springer, 2012
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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