Nadeau dostie benoit (44 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Better World Books: West, Reno, NV, U.S.A.Better World Books: West
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Ottimo
EUR 24,31
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: Fine. Used book that is in almost brand-new condition. May contain a remainder mark. Better World Books: Buy Books. Do Good.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.Better World Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Buono
EUR 24,31
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: HPB-Red, Dallas, TX, U.S.A.HPB-Red
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Buono
EUR 20,95
EUR 3,26 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, U.S.A.Goodwill of Silicon Valley
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Buono
EUR 24,53
EUR 3,47 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: good. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in Good condition! Any other included accessories are also in Good condition showing use. Use can include some highlighting and writing, page and cover creases as well as other types visible wear.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, U.S.A.Goodwill of Silicon Valley
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Discreto
EUR 24,53
EUR 3,47 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: acceptable. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in Acceptable condition! Any other included accessories are also in Acceptable condition showing use. Use can include some highlighting and writing, page and cover creases as well as other types visible wear such as cover t…ears discoloration, staining, marks, scuffs, etc. All pages intact.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: -OnTimeBooks-, Phoenix, AZ, U.S.A.-OnTimeBooks-
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Molto buono
EUR 31,22
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: very_good. Gently read. May have name of previous ownership, or ex-library edition. Binding tight; spine straight and smooth, with no creasing; covers clean and crisp. Minimal signs of handling or shelving. 100% GUARANTEE! Shipped with delivery confirmation, if you're not satisfied with purchase please return item! S…hips USPS Media Mail.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: SatelliteBooks, Burlington, VT, U.S.A.SatelliteBooks
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 26,81
EUR 5,01 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Hardcover. Condizione: As New. Hardcover, no DJ as issued Free of any markings and no writing. Minor shelf-wear. For Additional Information or pictures, Please Inquire.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Better World Books Ltd, Dunfermline, Regno UnitoBetter World Books Ltd
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Molto buono
EUR 41,74
EUR 5,78 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: Very Good. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.BennettBooksLtd
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 80,67
EUR 6,04 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.Romtrade Corp.
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 113,73
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.Basi6 International
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 113,73
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 156,03
EUR 2,29 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato
EUR 159,50
EUR 3,47 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: Used. pp. 260.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 2013
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 168,88
EUR 2,29 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Majestic Books, Hounslow, , Regno UnitoMajestic Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato
EUR 164,28
EUR 7,51 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: Used. pp. 260 Illus.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 154,73
EUR 17,34 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 2013
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 158,80
EUR 17,34 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 164,11
EUR 13,85 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 2013
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 164,11
EUR 13,85 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato
EUR 163,80
EUR 9,95 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: Used. pp. 260.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 2013
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.California Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 180,82
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 182,87
EUR 2,29 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 177,38
EUR 17,34 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 167,87
EUR 28,90 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Hardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 2013
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 209,60
EUR 3,47 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. pp. 260.
Altre immaginiLingua: Inglese
Editore: Springer US 2013
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
Da: preigu, Osnabrück, Germaniapreigu
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 140,00
EUR 70,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement | Benoit Nadeau-Dostie | Taschenbuch | xvii | Englisch | 2013 | Springer US | EAN 9781475782912 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: pre…igu.
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 202,92
EUR 10,50 spedizioneSpedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New. Offers practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. This book contains a complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design. Editor(s)…: Nadeau-Dostie, Benoit. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 256 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 254 x 178 x 15. Weight in Grams: 670. . 1999. Hardback. . . . .
Lingua: Inglese
Editore: Springer US, Copernicus 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 168,73
EUR 63,47 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the boa…rd and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted.
Lingua: Inglese
Editore: Springer US, Springer New York 2013
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 168,73
EUR 62,48 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at…the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted.
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 37 di 40. Libro 37 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.Kennys Bookstore
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 255,34
EUR 9,13 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New. Offers practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. This book contains a complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design. Editor(s)…: Nadeau-Dostie, Benoit. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 256 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 254 x 178 x 15. Weight in Grams: 670. . 1999. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
