Nicolaidis k (32 risultati)
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Da: Anybook.com, Lincoln, Regno UnitoAnybook.com
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Condizione: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has soft covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,850grams, ISBN:9780199245000.
Trends in the Historiography of Science
Gavroglu, Kostas; Christianidis, Jean; Nicolaidis, Efthymios (EDT)
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Trends in the Historiography of Science
Gavroglu, Kostas; Christianidis, Jean; Nicolaidis, Efthymios (EDT)
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Altre immaginiTrends in the Historiography of Science
Gavroglu, Kostas & Christianidis, Jean & Nicolaidis, Efthymios
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Condizione: Very Good+. Condizione sovraccoperta: Very Good. 1st. A 1st ed. very good+ hardcover (cloth-bound) with very good DJ, minor signs of wear on DJ as in image, text/block tight clean (image_2). 451p. 23x16x3,5cm. 950gr. The articles in this volume have been first presented during an international Conference organised by… the Greek Society for the History of Science and Technology in June 1990 at Corfu. You can find in BOOKSTALLblog the " Programme of the Conference" . Hardcover (cloth-bound) with DJ.
Trends in the Historiography of Science
. Ed(s): Gavroglu, Kostas; Christianidis, Y.; Nicolaidis, Efthymios (National Hellenic Research Foundation, Greece)
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Condizione: New. Deals with issues in the historiography of science, focusing on what is known as the internalist approach. This book includes topics such as ancient Greek mathematics during the Enlightenment, the physical sciences in the 19th and 20th centuries, as well as discussions of the relationship between history and phi…losophy of science. Editor(s): Gavroglu, Kostas; Christianidis, Y.; Nicolaidis, Efthymios (National Hellenic Research Foundation, Greece). Series: Boston Studies in the Philosophy and History of Science. Num Pages: 472 pages, biography. BIC Classification: HP; PDA. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 26. Weight in Grams: 840. . 1994. Hardback. . . . .
The Greco-german Affair in the Euro Crisis: Mutual Recognition Lost?
Nicolaidis, K./ Sternberg, C./ Gartzou-katsouyanni, K./ Beder
Lingua: Inglese
Editore: Palgrave Pivot 2017
Serie: Palgrave Studies in European Union Politics, Libro 93 di 93. Libro 93 di 93 - Palgrave Studies in European Union Politics
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Hardcover. Condizione: Brand New. 151 pages. 8.25x6.00x0.50 inches. In Stock.
Trends in the Historiography of Science
. Ed(s): Gavroglu, Kostas; Christianidis, Y.; Nicolaidis, Efthymios (National Hellenic Research Foundation, Greece)
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Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.Kennys Bookstore
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Condizione: New. Deals with issues in the historiography of science, focusing on what is known as the internalist approach. This book includes topics such as ancient Greek mathematics during the Enlightenment, the physical sciences in the 19th and 20th centuries, as well as discussions of the relationship between history and phi…losophy of science. Editor(s): Gavroglu, Kostas; Christianidis, Y.; Nicolaidis, Efthymios (National Hellenic Research Foundation, Greece). Series: Boston Studies in the Philosophy and History of Science. Num Pages: 472 pages, biography. BIC Classification: HP; PDA. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 26. Weight in Grams: 840. . 1994. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Condizione: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has soft covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,950grams, ISBN:9780199245000.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Condizione: New. pp. 168.
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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Condizione: New. Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, and more) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. This book contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing. Editor(s): Nicol…aidis, Michael; Zorian, Yervant; Pradhan, Dhiraj K. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 164 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 264 x 187 x 16. Weight in Grams: 520. . 1998. Reprinted from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Hardback. . . . .
On Line-Testing for VLSI
Nicolaidis, Michael (Edited by)/ Zorian, Yervant (Edited by)/ Pradhan, Dhiraj K. (Edited by)
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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Paperback. Condizione: Brand New. 164 pages. 11.00x8.25x0.37 inches. In Stock.
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.Kennys Bookstore
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Condizione: New. Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, and more) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. This book contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing. Editor(s): Nicol…aidis, Michael; Zorian, Yervant; Pradhan, Dhiraj K. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 164 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 264 x 187 x 16. Weight in Grams: 520. . 1998. Reprinted from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design of concu…rrent error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs. On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties. On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.
Lingua: Inglese
Editore: Springer US 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Buchpark, Trebbin, GermaniaBuchpark
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EUR 105,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design of concurre…nt error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs. On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties. On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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EUR 2,32 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Lingua: Inglese
Editore: Springer 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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Trends in the Historiography of Science
Gavroglu, Kostas; Christianidis, Jean; Nicolaidis, Efthymios (EDT)
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Trends in the Historiography of Science
Gavroglu, Kostas; Christianidis, Jean; Nicolaidis, Efthymios (EDT)
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
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Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
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Condizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 476.
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Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-lin…e testing includes the design.
Lingua: Inglese
Editore: Springer US 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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Lingua: Inglese
Editore: Springer 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Editore: Springer US Apr 1998 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the… design of concurrent error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs. On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties. On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers. 168 pp. Englisch.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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