Patrick b goldstein (6 risultati)
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Carlos Delgado; Patrick B. Goldstein; Julia Saez-Angulo; Jose Manuel Ciria
Editore: Annta Gallery, Madrid, Madrid, Spain, 2009
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Da: K. L. Givens Books, Bella Vista, AR, U.S.A.K. L. Givens Books
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Soft cover. Condizione: VG+. No Jacket. 1st Edition. Large format soft cover with colorful Ciria art on the cover. Book has very light edge wear as only defect to note. Book was for a display at the Annta Gallery in Madrid. Full color plates of Ciria's art. 141 pages. Size: Folio - over 12 - 15" tall. Book. …
Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy: A Laboratory Workbook
Lyman, Charles E.; Newbury, Dale E.; Goldstein, Joseph; Williams, David B.; Romig Jr., Alton D.; Armstrong, John; Echlin, Patrick; Fiori, Charles; Joy, David C.; Lifshin, Eric; Peters, Klaus-Rüdiger
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Editore: Annta Gallery., Madrid., 2009
Da: Gulliver's Books Never Die, Madrid, M, SpagnaGulliver's Books Never Die
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Aggiungi al carrello27x28. 141 pags. Muy ilustrado, color.
Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy: A Laboratory Workbook
Lyman, Charles E.; Newbury, Dale E.; Goldstein, Joseph; Williams, David B.; Romig Jr., Alton D.; Armstrong, John; Echlin, Patrick; Fiori, Charles; Joy, David C.; Lifshin, Eric; Peters, Klaus-Rüdiger
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Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.BennettBooksLtd
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Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. During the last four decades remarkable developments have taken place in instrumentation and techniques for characterizing the microstructure and microcomposition of materials. Some of the most important of these instruments involve the use of electron beam.…
