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PRESSURE DEPENDENCE OF THE ELASTIC CONSTANTS FOR ALUMINUM FROM 77 DEGREES TO 300 DEGREES K
Editore: J Applied Physics, 1969
Da: Larry W Price Books, Portland, OR, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Rivista / Giornale
Pamphlet. Condizione: Very Good. Vol 40, No 8, pp. 3151-3156, 4to, Extracted from orig vol, thus begins with title page, trimmed & stapled pamphlet, else VG.
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Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 (MRS Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107409489 ISBN 13: 9781107409484
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 39,15
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 (MRS Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107409489 ISBN 13: 9781107409484
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 35,67
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Low Dielectric Constant Materials for IC Applications
Lingua: Inglese
Editore: Springer Berlin / Heidelberg, 2002
ISBN 10: 3540678190 ISBN 13: 9783540678199
Da: Better World Books: West, Reno, NV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Very Good. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Materials Reliability in Microelectronics Iii: Volume 309 (MRS Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107409489 ISBN 13: 9781107409484
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 44,78
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Diffusion Phenomena in Thin Films and Microelectronic Materials (Materials Science and Process Technology Series)
Lingua: Inglese
Editore: Noyes Publications 1/1/1988, 1988
ISBN 10: 0815511671 ISBN 13: 9780815511670
Da: Mahler Books, PFLUGERVILLE, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Good. This book is in very good condition; name inscription on edges. It does have some shelfwear. Some sparse highlighted passages on about ten pages only.
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Materials Reliability in Microelectronics III
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press CUP, 2014
ISBN 10: 1107409489 ISBN 13: 9781107409484
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 514.
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Materials Reliability in Microelectronics Iii: Volume 309 (MRS Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107409489 ISBN 13: 9781107409484
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 55,39
Spedizione EUR 9,07
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Stress-Induced Phenomena in Metallization: Proceedings of the Second International Workshop held in Austin, Texas, March 1993 (AIP Conference Proceedings, No. 305)
Lingua: Inglese
Editore: American Institute of Physics, 1994
ISBN 10: 1563962519 ISBN 13: 9781563962516
Da: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. 302 pp., hardcover, ex library, else text and binding clean and tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Dorland's illustrated medical dictionary.
Editore: Philadelphia, Saunders, 1965, 1965
Da: Joseph Valles - Books, Stockbridge, GA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Good. 5th or later Edition. 24th ed. ; xxxvii, 1724 p. illus. (part col.) ; LCCN: 00-6383 ; LC: R121; Dewey: 610.3; NLM: W13; NAL: 448 ; OCLC: 165804 ; Comprehensive biomedical dictionary that reflects standard and current terminology derived from medicine and related disciplines. Official nomenclature from various fields used in compilation. Also includes eponyms, acronyms, abbreviations, and botanical terms, as well as generic and trade names of many drugs. Entries include pronunciation, derivation, plural, definition, and subentries. Cross references. Illustrations throughout." ; well worn copy, but hinges tight in a still serviceable copy ; flexible textured faux leather covers ; G. Book.
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Electromigration in Metals: Fundamentals to Nano-Interconnects
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2022
ISBN 10: 1107032385 ISBN 13: 9781107032385
Da: Books From California, Simi Valley, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
hardcover. Condizione: Very Good. Cover and edges may have some wear.
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Electronic packaging materials science V : symposium held November 26-29, 1990, Boston, Massachusetts, USA. Materials research society symposia proceedings, Vol. 203.
Lingua: Inglese
Editore: Pittsburgh, Pa. : Materials research Society, 1991
ISBN 10: 155899095X ISBN 13: 9781558990951
Da: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 43,89
Spedizione EUR 40,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrello457 p. Ex-Library Book in good condition. 9781558990951 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 839.
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Electromigration in Metals
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2022
ISBN 10: 1107032385 ISBN 13: 9781107032385
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
HRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Electromigration in Metals
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2022
ISBN 10: 1107032385 ISBN 13: 9781107032385
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 90,88
Spedizione EUR 7,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Electromigration in Metals : Fundamentals to Nano-Interconnects
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2022
ISBN 10: 1107032385 ISBN 13: 9781107032385
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 98,99
Spedizione EUR 2,28
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Electromigration in Metals: Fundamentals to Nano-Interconnects
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2022
ISBN 10: 1107032385 ISBN 13: 9781107032385
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 112,12
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Electromigration in Metals : Fundamentals to Nano-Interconnects
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2022
ISBN 10: 1107032385 ISBN 13: 9781107032385
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 117,51
Spedizione EUR 2,28
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Electromigration in Metals: Fundamentals to Nano-Interconnects
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2022
ISBN 10: 1107032385 ISBN 13: 9781107032385
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 108,78
Spedizione EUR 14,49
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 400 pages. 9.84x6.85x0.94 inches. In Stock.
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Materials Reliability in Microelectronics III : Volume 309
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107409489 ISBN 13: 9781107409484
EUR 57,28
Spedizione EUR 63,68
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
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Dorland's illustrated medical dictionary.
Editore: Philadelphia, Saunders, 1965, 1965
Da: Joseph Valles - Books, Stockbridge, GA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Good. 24th ed. ; xxxvii, 1724 p. illus. (part col.) ; LCCN: 00-6383 ; LC: R121; Dewey: 610.3; NLM: W13; NAL: 448 ; OCLC: 165804 ; Comprehensive biomedical dictionary that reflects standard and current terminology derived from medicine and related disciplines. Official nomenclature from various fields used in compilation. Also includes eponyms, acronyms, abbreviations, and botanical terms, as well as generic and trade names of many drugs. Entries include pronunciation, derivation, plural, definition, and subentries. Cross references. Illustrations throughout." ; some wear, but hinges tight ; flexible textured faux leather covers ; G. Book.
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Stress-Induced Phenomena in Metallization: Third International Workshop (AIP Conference Proceedings, No. 373)
Lingua: Inglese
Editore: American Institute of Physics, 1996
ISBN 10: 1563964392 ISBN 13: 9781563964398
Hardcover. Condizione: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA.
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Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
Lingua: Inglese
Editore: Materials Research Society, 1993
ISBN 10: 1558992057 ISBN 13: 9781558992054
EUR 34,89
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 516 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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EUR 37,25
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 382 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Advanced Interconnects For Ulsi Technology (Hb)
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Electromigration in Metals
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2022
ISBN 10: 1107032385 ISBN 13: 9781107032385
EUR 99,58
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Learn to assess electromigration reliability, and design more resilient chips, from this comprehensive resource. Building from fundamental physics to advanced methodologies, this book enables the reader to develop highly reliable on-chip wiring stacks and p.
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Electromigration in Metals: Fundamentals to Nano-Interconnects
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2022
ISBN 10: 1107032385 ISBN 13: 9781107032385
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 152,23
Spedizione EUR 14,49
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 400 pages. 9.84x6.85x0.94 inches. In Stock.
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Advanced Interconnects for ULSI Technology
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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EUR 174,37
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Brand New.
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Low Dielectric Constant Materials for IC Applications (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,54
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Low Dielectric Constant Materials for IC Applications
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,54
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
