Raz orna (17 risultati)
Hardware and Software : Verification and Testing: 6th International Haifa Verification Conference, Hvc 2010, Haifa, Israel, October 4-7, 2010. Revised Selected Papers
Barner, Sharon (EDT); Harris, I. (EDT); Kroening, D. (EDT); Raz, Orna (EDT)
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Hardware and Software : Verification and Testing: 6th International Haifa Verification Conference, Hvc 2010, Haifa, Israel, October 4-7, 2010. Revised Selected Papers
Barner, Sharon (EDT); Harris, I. (EDT); Kroening, D. (EDT); Raz, Orna (EDT)
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Hardware and Software : Verification and Testing: 6th International Haifa Verification Conference, Hvc 2010, Haifa, Israel, October 4-7, 2010. Revised Selected Papers
Barner, Sharon (EDT); Harris, I. (EDT); Kroening, D. (EDT); Raz, Orna (EDT)
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Hardware and Software : Verification and Testing: 6th International Haifa Verification Conference, Hvc 2010, Haifa, Israel, October 4-7, 2010. Revised Selected Papers
Barner, Sharon (EDT); Harris, I. (EDT); Kroening, D. (EDT); Raz, Orna (EDT)
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Hardware and Software: Verification and Testing: 6th International Haifa Verification Conference, Hvc 2010, Haifa, Israel, October 4-7, 2010. Revised Selected Papers
Barner, Sharon (Editor)/ Harris, I. (Editor)/ Kroening, D. (Editor)/ Raz, Orna (Editor)
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Theory and Practice of Quality Assurance for Machine Learning Systems: An Experiment-driven Approach
Ackerman, Samuel/ Barash, Guy/ Farchi, Eitan/ Raz, Orna/ Shehory, Onn
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the thoroughly refereed post-conference proceedings of the 6th International Haifa Verification Conference, HVC 2010, held in Haifa, Israel in October 2010.The 10 revised full papers presented together with 7 invited papers were carefully reviewed and selected from 30 submissions. The papers address all current issues, challenges and future directions of verification for hardware, software, and hybrid systems and have a research focus on hybrid methods and the migration of methods and ideas between hardware and software, static and dynamic analysis, pre- and post-silicon.…
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book constitutes the thoroughly refereed post-conference proceedings of the 6th International Haifa Verification Conference, HVC 2010, held in Haifa, Israel in October 2010.The 10 revised full papers presented together with 7 invited papers were carefully reviewed and selected from 30 submissions. The papers address all current issues, challenges and future directions of verification for hardware, software, and hybrid systems and have a research focus on hybrid methods and the migration of methods and ideas between hardware and software, static and dynamic analysis, pre- and post-silicon. 208 pp. Englisch.…
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Kartoniert / Broschiert. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Unique visibility fast-track-conference proceedings state-of-the-art researchThis book constitutes the thoroughly refereed post-conference proceedings of the 6th International Haifa Verification Conference, HVC 2010, held in Haifa, .…
Theory and Practice of Quality Assurance for Machine Learning Systems
Ackerman, Samuel; Barash, Guy; Farchi, Eitan; Raz, Orna; Shehory, Onn
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book constitutes the thoroughly refereed post-conference proceedings of the 6th International Haifa Verification Conference, HVC 2010, held in Haifa, Israel in October 2010.The 10 revised full papers presented together with 7 invited papers were carefully reviewed and selected from 30 submissions. The papers address all current issues, challenges and future directions of verification for hardware, software, and hybrid systems and have a research focus on hybrid methods and the migration of methods and ideas between hardware and software, static and dynamic analysis, pre- and post-silicon.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 208 pp. Englisch.…
