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schrimpf ronald (37 risultati)
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A Feasibility Study of Devices for Three-Dimensional Integrated Circuits: A Thesis Submitted to the Faculty of the Graduate School of the University of Minnesota
Data di pubblicazione: 1984
Da: Crossroad Books, Eau Claire, WI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good+. Condizione sovraccoperta: No Dust Jacket. Hardcover; no dustjacket, as issued. This is a printed Masters thesis published at the University of Minnesota in 1984. Bound in black buckram. The binding is clean. Pages clean. B&W illustrations. ; 27D; 11" x 8-1/2"; 95 pages.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 75,70
Spedizione EUR 17,19
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 90,59
Spedizione EUR 3,44
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Prototype-Device Fabrication and Modeling for All-Semiconductor Three-Dimensional Integrated Circuits: A Thesis Submitted to the Faculty of the Graduate School of the University of Minnesota
Data di pubblicazione: 1986
Da: Crossroad Books, Eau Claire, WI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Copia autografata
Hardcover. Condizione: Very Good+. Condizione sovraccoperta: No Dust Jacket. Hardcover; no dustjacket, as issued. This is a printed PHD thesis published at the University of Minnesota in 1986. Bound in black buckram. Signed by the author on the front flyleaf; as"Ron", and inscribed to one of his professors (who is also mentioned first in the acknowledgements. The binding is very clean. Pages clean. B&W illustrations. This is a fairly heavy book; Priority and/or International may require shipping over and above standard costs. ; 27D; 11" x 8-1/2"; 134 pages; Signed by Author.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 91,71
Spedizione EUR 7,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 87,02
Spedizione EUR 14,71
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback / softback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 87,31
Spedizione EUR 17,19
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 92,96
Spedizione EUR 17,75
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 100,00
Spedizione EUR 13,73
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 140,18
Spedizione EUR 17,19
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 770 pages. 10.00x7.00x1.75 inches. In Stock.
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 163,24
Spedizione EUR 6,73
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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RADIATION EFFECTS AND SOFT ERRORS IN INTEGRATED CIRCUITS AND ELECTRONIC DEVICES (Selected Topics in Electronics and Systems)
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, SG, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 211,36
Spedizione gratuita
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide-semiconductor (MOS), and compound semiconductor technologies are discussed. In addition to considering the specific issues associated with high-performance devices and technologies, the book includes the background material necessary for understanding radiation effects at a more general level.
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
HRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 225,49
Spedizione EUR 9,73
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 225,48
Spedizione EUR 17,19
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 256,13
Spedizione EUR 17,19
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, SG, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: Rarewaves.com UK, London, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 198,65
Spedizione EUR 74,49
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide-semiconductor (MOS), and compound semiconductor technologies are discussed. In addition to considering the specific issues associated with high-performance devices and technologies, the book includes the background material necessary for understanding radiation effects at a more general level.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 246,70
Spedizione EUR 28,65
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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EUR 233,96
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. SchrimpfUncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 770.
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 280,69
Spedizione EUR 22,92
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 792 pages. 10.00x7.10x1.50 inches. In Stock.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 302,63
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 770.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Inc Nov 2008, 2008
ISBN 10: 1420043765 ISBN 13: 9781420043761
EUR 290,47
Spedizione EUR 67,60
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - Focusing primarily on silicon-based microelectronics, Defects in Microelectronic Materials and Devices provides a comprehensive overview of recent progress made in understanding the effects of electrically active defects in microelectronic materials. The book places particular emphasis on defects that limit device quality, reliability, manufacturability, and radiation response. Notable theorists and researchers present their perspectives on defects in insulators and in semiconductors as well as hydrogen and defect-related failure mechanisms. The text also discusses compound semiconductor materials for microelectronic applications and examines new information garnered from physics and engineering models.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 75,72
Spedizione EUR 18,05
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback / softback. Condizione: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
