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Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521865816 ISBN 13: 9780521865814
Da: Better World Books: West, Reno, NV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Very Good. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs.
Lingua: Inglese
Editore: New York, Springer New York., 2012
ISBN 10: 1461407877 ISBN 13: 9781461407874
Da: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Germania
Membro dell'associazione: GIAQ ILAB VDA
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 14,00
Spedizione EUR 30,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloXXIX, 305 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Stamped. Sprache: Englisch.
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EUR 45,50
Spedizione EUR 7,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 290.
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Condizione: New. pp. 290.
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VLSI DESIGN (HB 2014)
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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VLSI DESIGN (HB 2014)
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Condizione: New. Brand New Original US Edition. Customer service! Satisfaction Guaranteed.
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Condizione: New. Brand New Original US Edition. Customer service! Satisfaction Guaranteed.
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EUR 44,91
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 290.
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Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Da: Book Dispensary, Concord, ON, Canada
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,21
Spedizione EUR 6,02
Spedito da Canada a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: As New. BRAND NEW hardcover, minor shelf/handling wear. Book.
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Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Edizione InternazionaleVLSI DESIGN (HB 2014)
Da: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 61,39
Spedizione EUR 6,86
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 14 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Brand New ! Fast Delivery "International Edition " and ship within 24-48 hours. Deliver by FedEx and Dhl, & Aramex, UPS, & USPS and we do accept APO and PO BOX Addresses. Order can be delivered worldwide within 4-6 Working days .and we do have flat rate for up to 2LB. Extra shipping charges will be requested This Item May be shipped from India, United states & United Kingdom. Depending on your location and availability.
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Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press CUP, 2007
ISBN 10: 0521865816 ISBN 13: 9780521865814
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. xviii + 240.
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Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521865816 ISBN 13: 9780521865814
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 75,45
Spedizione EUR 7,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xviii + 240 Illus.
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Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521865816 ISBN 13: 9780521865814
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 75,23
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xviii + 240.
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Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer Vlsi Designs
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 100,57
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer Vlsi Designs
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 119,82
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 113,49
Spedizione EUR 13,73
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer Vlsi Designs
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 113,48
Spedizione EUR 17,19
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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EUR 29,90
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 336 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Since process variation and chip performance uncertainties have become more pronounced as technologies scale down into the nanometer regime, accurate and efficient modeling or characterization of variations from the device to the architecture level have become imperative for the successful design of VLSI chips.This book provides readers with tools for variation-aware design methodologies and computer-aided design (CAD) of VLSI systems, in the presence of process variations at the nanometer scale. It presents the latest developments for modeling and analysis, with a focus on statistical interconnect modeling, statistical parasitic extractions, statistical full-chip leakage and dynamic power analysis considering spatial correlations, statistical analysis and modeling for large global interconnects and analog/mixed-signal circuits. Provides readers with timely, systematic and comprehensive treatments of statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks, and analog/mixed-signal circuits;Helps chip designers understand the potential and limitations of their design tools, improving their design productivity;Presents analysis of each algorithm with practical applications in the context of real circuit design;Includes numerical examples for the quantitative analysis and evaluation of algorithms presented. Provides readers with timely, systematic and comprehensive treatments of statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks, and analog/mixed-signal circuits;Helps chip designers understand the potential and limitations of their design tools, improving their design productivity;Presents analysis of each algorithm with practical applications in thecontext of real circuit design;Includes numerical examples for the quantitative analysis and evaluation of algorithms presented. .
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EUR 29,90
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 320 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book provides comprehensive coverage of the recent advances in symbolic analysis techniques for design automation of nanometer VLSI systems. The presentation is organized in parts of fundamentals, basic implementation methods and applications for VLSI design. Topics emphasized include statistical timing and crosstalk analysis, statistical and parallel analysis, performance bound analysis and behavioral modeling for analog integrated circuits. Among the recent advances, the Binary Decision Diagram (BDD) based approaches are studied in depth. The BDD-based hierarchical symbolic analysis approaches, have essentially broken the analog circuit size barrier.
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Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer Vlsi Designs
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 126,43
Spedizione EUR 17,19
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 336.
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Symbolic Analysis and Reduction of VLSI Circuits
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 308.
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VLSI Design
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 151,43
Spedizione EUR 13,73
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems: Methods and Applications
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 161,46
Spedizione EUR 13,73
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems: Methods and Applications
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 161,46
Spedizione EUR 13,73
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems: Methods and Applications
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 300.
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EUR 136,16
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New.
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EUR 136,16
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
