Singhal rohit (8 risultati)

Autore: 
Perfeziona con la Ricerca avanzata

Perfeziona la tua ricerca

  • Libri (8)

a

Fascia di prezzo personalizzata (EUR)

a

  • Condizione: Usato - Molto buono

    EUR 91,90

    EUR 4,42 spedizione 
    Spedito in U.S.A.

    Quantità: 1 disponibile

    Hardcover. Condizione: Very Good. This book is in very good condition; no remainder marks. Appears to have been gently used. Inside pages are clean. ; Computer Engineering Series; 6.75 X 0.97 X 9.47 inches; 386 pages.

  • Lingua: Inglese

    Editore: VDM Verlag Dr. Mueller Aktiengesellschaft & Co. KG, 2009

    3639203666 / 9783639203660

    • Brossura

    Da: Books Puddle, Woodside, NY, U.S.A.Books Puddle

    Venditore con 4 stelle
    Contatta il venditore

    Condizione: Nuovo

    EUR 95,90

    EUR 3,56 spedizione 
    Spedito in U.S.A.

    Quantità: 4 disponibili

    Condizione: New. pp. 132.

  • Lingua: Inglese

    Editore: VDM Verlag Dr. Müller, 2009

    3639203666 / 9783639203660

    • Brossura

    Da: preigu, Osnabrück, Germaniapreigu

    Venditore con 5 stelle
    Contatta il venditore

    Condizione: Nuovo

    EUR 51,10

    EUR 70,00 spedizione 
    Spedito da Germania a U.S.A.

    Quantità: 5 disponibili

    Taschenbuch. Condizione: Neu. Data Integrity for On-Chip Interconnects | A Communication Theoretic Approach | Rohit Singhal | Taschenbuch | Englisch | VDM Verlag Dr. Müller | EAN 9783639203660 | Verantwortliche Person für die EU: VDM Verlag Dr. Müller, Brivibas Gatve 197, 1039 RIGA, LETTLAND, customerservice[at]vdm-vsg[dot]de | Anbieter: preigu. …

  • Lingua: Inglese

    Editore: VDM Verlag, 2009

    3639203666 / 9783639203660

    • Brossura

    Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books

    Venditore con 4 stelle
    Contatta il venditore

    Condizione: Usato - Come nuovo

    EUR 141,16

    EUR 29,54 spedizione 
    Spedito da Regno Unito a U.S.A.

    Quantità: 1 disponibile

    Paperback. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

  • Lingua: Inglese

    Editore: VDM Verlag Dr. Müller, 2009

    3639203666 / 9783639203660

    • Brossura
    • Print on Demand

    Da: moluna, Greven, Germaniamoluna

    Venditore con 5 stelle
    Contatta il venditore

    Condizione: Nuovo

    EUR 46,32

    EUR 48,99 spedizione 
    Spedito da Germania a U.S.A.

    Quantità: Più di 20 disponibili

    Kartoniert / Broschiert. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Autor/Autorin: Singhal RohitDr. Singhal is a Senior Design Engineer, at Integrated Device Technology Inc. Dr. Choi and Dr. Mahapatra are both Associate Professors at Texas A&M University. This work resulted from Dr. Singhal s doctoral research .…

  • Lingua: Inglese

    Editore: VDM Verlag Dr. Müller, 2009

    3639203666 / 9783639203660

    • Brossura
    • Print on Demand

    Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH

    Venditore con 5 stelle
    Contatta il venditore

    Condizione: Nuovo

    EUR 64,64

    EUR 35,00 spedizione 
    Spedito da Germania a U.S.A.

    Quantità: 2 disponibili

    Taschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The desire for having a smaller-faster chip that does more than ever before, has led to shrinking feature size and growing integration density. This integration has left designers grappling with increasing concerns of signal-integrity (SI), timing- closure and power-consumption. Firstly, the shrinking feature size has resulted in greater delays. Further, the adjacent wires are now very close and cause Cross-talk to each other's signals. Traditional designs focus on protecting SI on long parallel wires. The SI designs accomodate the worst case delays of signals; while they aim to improve the worst-case delays at a circuit level using novel tricks, they are transparent to the actual data carried in the wires. Departing from this trend, this work aims to introduce an information theoretic approach to address data-integrity (DI). A novel approach for evaluating the data carrying capacity of long parallel wires is presented herein. This capacity is much greater than the data-rate achieved by SI designs. This work also proposes several practical designs with data-rate approaching this capacity.…

  • Lingua: Inglese

    Editore: VDM Verlag Dr. Mueller Aktiengesellschaft & Co. KG, 2009

    3639203666 / 9783639203660

    • Brossura
    • Print on Demand

    Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books

    Venditore con 4 stelle
    Contatta il venditore

    Condizione: Nuovo

    EUR 96,92

    EUR 7,68 spedizione 
    Spedito da Regno Unito a U.S.A.

    Quantità: 4 disponibili

    Condizione: New. Print on Demand pp. 132 2:B&W 6 x 9 in or 229 x 152 mm Perfect Bound on Creme w/Gloss Lam.

  • Lingua: Inglese

    Editore: VDM Verlag Dr. Mueller Aktiengesellschaft & Co. KG, 2009

    3639203666 / 9783639203660

    • Brossura
    • Print on Demand

    Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios

    Venditore con 4 stelle
    Contatta il venditore

    Condizione: Nuovo

    EUR 96,06

    EUR 9,95 spedizione 
    Spedito da Germania a U.S.A.

    Quantità: 4 disponibili

    Condizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 132.