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Reliability Analysis Of Electrotechnical Devices
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 50,41
Spedizione EUR 2,29
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Reliability Analysis of Electrotechnical Devices (Hardback or Cased Book)
Da: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardback or Cased Book. Condizione: New. Reliability Analysis of Electrotechnical Devices. Book.
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Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 50,77
Spedizione EUR 2,29
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Reliability Analysis of Electrotechnical Devices
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 54,47
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Reliability Analysis Of Electrotechnical Devices
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,44
Spedizione EUR 2,29
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Reliability Analysis of Electrotechnical Devices
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,99
Spedizione gratuita
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New.
-
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 58,79
Spedizione EUR 2,29
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Reliability Analysis of Electrotechnical Devices
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 54,08
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Reliability Analysis Of Electrotechnical Devices
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 52,17
Spedizione EUR 17,38
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Future Learning in Primary Schools: A Singapore Perspective
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,60
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Future Learning in Primary Schools: A Singapore Perspective
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,60
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Electromigration Modeling at Circuit Layout Level (SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,60
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 116.
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Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 56,54
Spedizione EUR 17,94
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPF. Condizione: New.
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Future Learning in Primary Schools: A Singapore Perspective
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 236.
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Reliability Analysis Of Electrotechnical Devices
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 59,03
Spedizione EUR 17,38
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 59,50
Spedizione EUR 17,38
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Future Learning in Primary Schools: A Singapore Perspective
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. VI, 219 Softcover reprint of the original 1st ed. 2016 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Hardcover. Condizione: New. 1st Edition. US SELLER SHIPS FROM USA.
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Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 64,55
Spedizione EUR 17,38
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 76,06
Spedizione EUR 11,58
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 2013 edition. 112 pages. 9.37x6.14x0.39 inches. In Stock.
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Future Learning in Primary Schools: A Singapore Perspective
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 79,83
Spedizione EUR 11,58
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 150 pages. 9.25x6.50x0.50 inches. In Stock.
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Electromigration in ULSI Interconnections
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 116,84
Spedizione EUR 2,29
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Electromigration In Ulsi Interconnections
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2010
ISBN 10: 9814273325 ISBN 13: 9789814273329
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
HRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Electromigration In Ulsi Interconnections (International Series on Advances in Solid State Electronics and Technology)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 119,65
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Electromigration in ULSI Interconnections
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 104,87
Spedizione EUR 17,38
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Future Learning in Primary Schools : A Singapore Perspective
Lingua: Inglese
Editore: Springer Nature Singapore, Springer Nature Singapore, 2016
ISBN 10: 9811011982 ISBN 13: 9789811011986
EUR 58,39
Spedizione EUR 61,77
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This edited book tells the story of the multifaceted efforts devoted by a 'future school' in Singapore-The Nan Chiau Primary School-in shaping future learning. It documents the various measures implemented by one primary school to improve student learning outcomes in a technology-rich teaching and learning environment. With the current interest in Singapore's 'Masterplan for ICT (information and communication technology) in Education,' and the increasing focus on teaching and learning design by leading education researchers and professionals, this well-timed book will appeal to policy makers, educators and researchers.
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EUR 50,25
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Future Learning in Primary Schools | A Singapore Perspective | Ching Sing Chai (u. a.) | Taschenbuch | vi | Englisch | 2016 | Springer Singapore | EAN 9789811011986 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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EUR 50,35
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Electromigration Modeling at Circuit Layout Level | Cher Ming Tan (u. a.) | Taschenbuch | SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology | ix | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9789814451208 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Future Learning in Primary Schools : A Singapore Perspective
Lingua: Inglese
Editore: Springer Nature Singapore, Springer Nature Singapore, 2015
ISBN 10: 9812875786 ISBN 13: 9789812875785
EUR 58,56
Spedizione EUR 62,56
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This edited book tells the story of the multifaceted efforts devoted by a 'future school' in Singapore-The Nan Chiau Primary School-in shaping future learning. It documents the various measures implemented by one primary school to improve student learning outcomes in a technology-rich teaching and learning environment. With the current interest in Singapore's 'Masterplan for ICT (information and communication technology) in Education,' and the increasing focus on teaching and learning design by leading education researchers and professionals, this well-timed book will appeal to policy makers, educators and researchers.
