Thijssen a p (21 risultati)
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Condizione: good. Befriedigend/Good: Durchschnittlich erhaltenes Buch bzw. Schutzumschlag mit Gebrauchsspuren, aber vollständigen Seiten. / Describes the average WORN book or dust jacket that has all the pages present.
Editore: Hawaii Institute of Geophysics. 1983
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Da: Eryops Books, Stephenville, U.S.A.Eryops Books
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Aggiungi al carrelloSoft cover. Condizione: Very Good. ORIGINAL Publication; softcovers; ex-library; light creasing of corners of wraps and leaves; o/w in very good condition. Journal.
Editore: Delftse U.M., Delft 1982
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- Prima edizione
Da: BIBLIOPE by Calvello Books, Oakland, U.S.A.BIBLIOPE by Calvello Books
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Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Near Fine. First edition. Octavo in red wrappers; 368 pages; 24 cm. Numerous b/w illus. Minor scuffing to spine and spotting to textblock. Else overall, Near Fine.
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Da: medimops, Berlin, Germaniamedimops
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Condizione: good. Befriedigend/Good: Durchschnittlich erhaltenes Buch bzw. Schutzumschlag mit Gebrauchsspuren, aber vollständigen Seiten. / Describes the average WORN book or dust jacket that has all the pages present.
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Da: Bookbot, Prague, Repubblica CecaBookbot
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Softcover. Condizione: Fine. Leichte Kratzer / Abnutzungen / Druckstellen; Gebrochener Buchrücken; Farbtonänderung.
Altre immagini- Rilegato
Da: Bookbot, Prague, Repubblica CecaBookbot
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Hardcover. Condizione: Fine. Leichte Rillen / Abschürfungen / Risse / Knicke.
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, Boston 1995
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Regno UnitoPsychoBabel & Skoob Books
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Hardcover. Condizione: Very Good. No Dust Jacket. Name from previous owner on FEP. No dust jacket. Binding is very well preserved, pages are clean and crisp, and printing is tight, clean and bright throughout. MB. Used.
Editore: Eindhoven : Stchting De Krabbedans 1984
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Da: Klondyke, Almere, Paesi BassiKlondyke
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Condizione: Good. Oorspronkelijk omslag, oblong, circa 29,5x21cm, illustraties in z/w.
Editore: Delft, Delftse Uitgevers Maatschappij, , derde druk 1990
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Da: Pallas Books Antiquarian Booksellers, Leiden, Paesi BassiPallas Books Antiquarian Booksellers
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato
EUR 10,00
EUR 27,00 spedizioneSpedito da Paesi Bassi a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
paperbound, 8vo, 2 volumes 512, 314 pp., ills. schakelalgebra; logische functies; programmeerbare logica; wiskundige operaties; algoritmes.
Lingua: Inglese
Editore: Distributed in the USA by Routledge, Chapman, and Hall
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Da: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, Regno UnitoPhatpocket Limited
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Condizione: Good. Used - Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre.' Ex-library, but has been well cared for. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Condizione: New. In.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 1995
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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EUR 164,36
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Condizione: New. In.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Books Puddle, New York, U.S.A.Books Puddle
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Condizione: New. pp. 228.
Variations: The Systematic Design of Supports
Habraken, N. J., Boekholt, J. Th., Thijssen, A. P., Dinjens,
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Da: Mispah books, Redhill, Regno UnitoMispah books
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Lingua: Inglese
Editore: Springer 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Mispah books, Redhill, Regno UnitoMispah books
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Lingua: Inglese
Editore: Springer 1995
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Mispah books, Redhill, Regno UnitoMispah books
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Hardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Da: Mispah books, Redhill, Regno UnitoMispah books
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paperback. Condizione: Good. Good. Dust Jacket NOT present. CD WILL BE MISSING. . SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Lingua: Inglese
Editore: Springer US 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC design styl…es. Thirdly, knowledge of how to create a.
Lingua: Inglese
Editore: Springer US 1995
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC d…esign styles. Thirdly, knowledge of how to create a.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
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Lingua: Inglese
Editore: Springer 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 1 di 40. Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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