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9780387286679 - Scanning Probe Microscopy: Electrical And Electromechanical Phenomena at the Nanoscale (16 risultati)
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Scanning Probe Microscopy: Electrical And Electromechanical Phenomena At The Nanoscale, 2 Volumes Set
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Scanning Probe Microscopy: Electrical And Electromechanical Phenomena At The Nanoscale, 2 Volumes Set
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
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Scanning Probe Microscopy: Electrical And Electromechanical Phenomena At The Nanoscale, 2 Volumes Set
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Scanning Probe Microscopy,2 Vol.Set
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Scanning Probe Microscopy
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. xl + 980.
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Scanning Probe Microscopy
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 138,66
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Edizione InternazionaleSCANNING PROBE MICROSCOPY,2 VOL.SET
Da: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 146,29
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale, 2 Volume Set
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Scanning Probe Microscopy
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 138,17
Spedizione EUR 9,95
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Scanning Probe Microscopy : Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
Lingua: Inglese
Editore: Springer New York, Springer New York, 2006
ISBN 10: 0387286675 ISBN 13: 9780387286679
EUR 333,77
Spedizione EUR 69,40
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Probe Microscopy brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, two-volume set presents practical and theoretical issues of advanced scanning probe microscopy (SPM) techniques ranging from fundamental physical studies to device characterization, failure analysis, and nanofabrication. Volume 1 focuses on the technical aspects of SPM methods ranging from scanning tunneling potentiometry to electrochemical SPM, and addresses the fundamental physical phenomena underlying the SPM imaging mechanism. Volume 2 concentrates on the practical aspects of SPM characterization of a wide range of materials, including semiconductors, ferroelectrics, dielectrics, polymers, carbon nanotubes, and biomolecules, as well as on SPM-based approaches to nanofabrication and nanolithography.
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EUR 267,86
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Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Appeals to researchers from disciplines as diverse as physics, chemistry, biology, molecular engineering and biotechnologyPresents practical aspects of materials characterization as applied to semiconductors, ferroelectrics, dielectrics, polymers,.
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Scanning Probe Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer New York Dez 2006, 2006
ISBN 10: 0387286675 ISBN 13: 9780387286679
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 320,99
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This volume will be devoted to the technical aspects of electrical and electromechanical SPM probes and SPM imaging on the limits of resolution, thus providing technical introduction into the field. This volume will also address the fundamental physical phenomena underpinning the imaging mechanism of SPMs. 1040 pp. Englisch.
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EUR 277,65
Spedizione EUR 70,00
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Scanning Probe Microscopy | Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale | Alexei Gruverman (u. a.) | Buch | 2 Bücher | Englisch | 2006 | Copernicus | EAN 9780387286679 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Scanning Probe Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer New York, Copernicus Dez 2006, 2006
ISBN 10: 0387286675 ISBN 13: 9780387286679
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
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EUR 320,99
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Scanning Probe Microscopy brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, two-volume set presents practical and theoretical issues of advanced scanning probe microscopy (SPM) techniques ranging from fundamental physical studies to device characterization, failure analysis, and nanofabrication. Volume 1 focuses on the technical aspects of SPM methods ranging from scanning tunneling potentiometry to electrochemical SPM, and addresses the fundamental physical phenomena underlying the SPM imaging mechanism. Volume 2 concentrates on the practical aspects of SPM characterization of a wide range of materials, including semiconductors, ferroelectrics, dielectrics, polymers, carbon nanotubes, and biomolecules, as well as on SPM-based approaches to nanofabrication and nanolithography.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 1040 pp. Englisch.
