9780792380795 - a unified approach for timing verification and delay fault testing di strojwas, andrzej j.; sivaraman, mukund (18 risultati)

Perfeziona la tua ricerca

  • Libri (18)

a

Fascia di prezzo personalizzata (EUR)

a

    • Lingua: Inglese

      Editore: Kluwer Academic Publishers, Dordrecht, Holland, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato
      • Prima edizione

      Da: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Regno UnitoPsychoBabel & Skoob Books

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Usato - Molto buono

      EUR 32,19

      EUR 14,61 spedizione 
      Spedito da Regno Unito a U.S.A.

      Quantità: 1 disponibili

      hardcover. Condizione: Very Good. No Dust Jacket. First Edition. Hardback in very good condition. Printed boards, a little scuffed; previous owner's name on FEP, no jacket as issued; contents clean, sound, bright. TPW. Used.

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato

      Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books

      Venditore con 4 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Usato - Come nuovo

      EUR 56,57

      EUR 29,21 spedizione 
      Spedito da Regno Unito a U.S.A.

      Quantità: 1 disponibili

      Hardcover. Condizione: Like New. Like NewLIKE NEW. book.

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato

      Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 113,44

      EUR 2,28 spedizione 
      Spedito in U.S.A.

      Quantità: Più di 20 disponibili

      Condizione: New.

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato

      Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.BennettBooksLtd

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 109,66

      EUR 6,00 spedizione 
      Spedito in U.S.A.

      Quantità: 1 disponibili

      hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato

      Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Usato - Come nuovo

      EUR 122,67

      EUR 2,28 spedizione 
      Spedito in U.S.A.

      Quantità: Più di 20 disponibili

      Condizione: As New. Unread book in perfect condition.

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato

      Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 116,61

      EUR 14,00 spedizione 
      Spedito da Regno Unito a U.S.A.

      Quantità: Più di 20 disponibili

      Condizione: New. In.

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato

      Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 116,60

      EUR 17,53 spedizione 
      Spedito da Regno Unito a U.S.A.

      Quantità: Più di 20 disponibili

      Condizione: New.

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer US, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato

      Da: Buchpark, Trebbin, GermaniaBuchpark

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Usato - Molto buono

      EUR 35,62

      EUR 105,00 spedizione 
      Spedito da Germania a U.S.A.

      Quantità: 1 disponibili

      Condizione: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Large system complexities and operation under tight timing constraints in rapidly shrinking technologies have made it extremely important to ensure correct temporal behavior of modern-day digital circuits, both before and after fabrication. Research in (pre

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato

      Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle

      Venditore con 4 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 143,56

      EUR 3,45 spedizione 
      Spedito in U.S.A.

      Quantità: 4 disponibili

      Condizione: New. pp. 176.

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato

      Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Usato - Come nuovo

      EUR 128,38

      EUR 17,53 spedizione 
      Spedito da Regno Unito a U.S.A.

      Quantità: Più di 20 disponibili

      Condizione: As New. Unread book in perfect condition.

    • Lingua: Inglese

      Editore: Kluwer Academic Publishers, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato

      Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 132,60

      EUR 9,50 spedizione 
      Spedito da Irlanda a U.S.A.

      Quantità: 15 disponibili

      Condizione: New. This text applies concepts developed in the context of delay fault testing to path sensitization, which allows an accurate timing analysis mechanism to be developed. This path sensitization strategy is further applied for efficient delay fault diagnosis and delay fault coverage estimation. Num Pages: 155 pages,

    • Lingua: Inglese

      Editore: Kluwer Academic Publishers, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato

      Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.Kennys Bookstore

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 165,53

      EUR 9,07 spedizione 
      Spedito in U.S.A.

      Quantità: 15 disponibili

      Condizione: New. This text applies concepts developed in the context of delay fault testing to path sensitization, which allows an accurate timing analysis mechanism to be developed. This path sensitization strategy is further applied for efficient delay fault diagnosis and delay fault coverage estimation. Num Pages: 155 pages,

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer US, Springer US, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato

      Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 112,77

      EUR 62,18 spedizione 
      Spedito da Germania a U.S.A.

      Quantità: 1 disponibili

      Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Large system complexities and operation under tight timing constraints in rapidly shrinking technologies have made it extremely important to ensure correct temporal behavior of modern-day digital circuits, both before and after fabrication. Research in (

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer US, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato
      • Print on Demand

      Da: moluna, Greven, Germaniamoluna

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 92,27

      EUR 48,99 spedizione 
      Spedito da Germania a U.S.A.

      Quantità: Più di 20 disponibili

      Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Large system complexities and operation under tight timing constraints in rapidly shrinking technologies have made it extremely important to ensure correct temporal behavior of modern-day digital circuits,

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato
      • Print on Demand

      Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books

      Venditore con 4 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 148,09

      EUR 7,60 spedizione 
      Spedito da Regno Unito a U.S.A.

      Quantità: 4 disponibili

      Condizione: New. Print on Demand pp. 176 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer US Nov 1997, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato
      • Print on Demand

      Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 139,09

      EUR 23,00 spedizione 
      Spedito da Germania a U.S.A.

      Quantità: 2 disponibili

      Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Large system complexities and operation under tight timing constraints in rapidly shrinking technologies have made it extremely important to ensure correct temporal behavior of modern-day digital circuits, both before and after fabricatio

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato
      • Print on Demand

      Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios

      Venditore con 4 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 151,90

      EUR 9,95 spedizione 
      Spedito da Germania a U.S.A.

      Quantità: 4 disponibili

      Condizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 176.

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer US, Springer US Nov 1997, 1997

      0792380797 / 9780792380795

      • Rilegato
      • Print on Demand

      Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germaniabuchversandmimpf2000

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 106,99

      EUR 60,00 spedizione 
      Spedito da Germania a U.S.A.

      Quantità: 1 disponibili

      Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Large system complexities and operation under tight timing constraints in rapidly shrinking technologies have made it extremely important to ensure correct temporal behavior of modern-day digital circuits, both before and after fabrication. R