9783319998244 - lock-in thermography: basics and use for evaluating electronic devices and materials: 10 di breitenstein, otwin; warta, wilhelm; schubert, martin c. (12 risultati)
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Editore: Berlin, Springer., 2018
Serie: Libro 63 di 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Editore: Springer, 2019
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Editore: Springer, 2019
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Editore: Springer, 2019
Serie: Libro 63 di 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modula…ting heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.
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Editore: Springer Verlag, 2019
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Editore: Springer International Publishing, 2019
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Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Describes an imaging technique for the evaluation of materials and electronic devicesDiscusses various new application fields of lock-in thermographyIs useful as a reference work for researchers and enginee…rs alikeIncludes ext.
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Editore: Springer International Publishing Jan 2019, 2019
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Per…iodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included. 344 pp. Englisch.
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodi…cally modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 344 pp. Englisch.
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