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9783540738855 - Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials di Fultz, Brent; Howe, James M. (7 risultati)
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials.
Da: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Germania
Membro dell'associazione: GIAQ
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 23,20
Spedizione EUR 30,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Wie neu. 778 S., Like new. Shrink wrapped. / Wie neu. In Folie verschweißt. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1355 3rd corrected Ed. 2008, corr. 2nd printing 2009.
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EUR 12,42
Spedizione EUR 62,30
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Gut. 778 Seiten; 9783540738855.3 Gewicht in Gramm: 2.
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EUR 12,42
Spedizione EUR 62,30
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Befriedigend. 778 Seiten; 9783540738855.4 Gewicht in Gramm: 2.
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hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Da: brandnewtexts4sale, Houston, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: New. 3rd Edition. 100% BRAND NEW US HARDCOVER STUDENT 3rd Edition / shrink wrapped / Mint condition / ISBN-10: 3540738851 / Shipped out in one business day with free tracking.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
Lingua: Inglese
Editore: Springer Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009, 2008
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
Da: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 99,00
Spedizione EUR 39,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: gut. This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. In englischer Sprache. 758 pages. 3,3 x 16 x 23,3 cm Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Da: Solr Books, Lincolnwood, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
