Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
EUR 52,41
Convertire valutaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
EUR 60,25
Convertire valutaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
EUR 64,53
Convertire valutaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
EUR 61,92
Convertire valutaQuantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPF. Condizione: New.
EUR 79,44
Convertire valutaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 108.
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
EUR 82,74
Convertire valutaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 108 70 Illus.
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
EUR 84,80
Convertire valutaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 108.
Da: moluna, Greven, Germania
EUR 48,37
Convertire valutaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Applies Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC) to real applications in nanometer wireless radio design Provides on-chip testing capabilities as well as on-the-fly calibration abilities to render mixed-mode designs robust from the out.