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Da: moluna, Greven, Germania
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Aggiungi al carrelloKartoniert / Broschiert. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Applies Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC) to real applications in nanometer wireless radio design Provides on-chip testing capabilities as well as on-the-fly calibration abilities to render mixed-mode designs robust from the out.
Editore: Springer-Verlag New York Inc., 2011
ISBN 10: 1441995471 ISBN 13: 9781441995476
Lingua: Inglese
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
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