Circuit design reliability (64 risultati)
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Hardcover. Condizione: As New copy in dust jacket. Second Printing. Octavo; xxxi, 426 pages.
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Paperback. Condizione: Brand New. 112 pages. 9.00x6.00x0.50 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability | Jiann-Shiun Yuan | Taschenbuch | SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology | vi | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9789811008825 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[do…t]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and ci…rcuits. This proposed book is unique to explore typical reliability issues in the device and technology level and then to examine their impact on RF wireless transceiver circuit performance. Analytical equations, experimental data, device and circuit simulation results will be given for clear explanation. The main benefit the reader derive from this book will be clear understanding on how device reliability issues affects the RF circuit performance subjected to operation aging and process variations.
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Condizione: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,650grams, ISBN:0890065276.
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
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Gebunden. Condizione: New. InhaltsverzeichnisYield calculating yield statistical sensitivity yield optimization statistical modeling case studies and examples.KlappentextA reference for anyone involved with microwave design. It tac.
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Hardcover. Condizione: Brand New. 272 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Circuit Design for Reliability | Ricardo Reis (u. a.) | Taschenbuch | vi | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9781493941568 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book presents physical understanding, modeling and simulation, on-chip characterization, layout solutions, and design techniques that are effective to enhance the reliability of various circuit units. The authors provide readers with techniqu…es for state of the art and future technologies, ranging from technology modeling, fault detection and analysis, circuit hardening, and reliability management.
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Paperback. Condizione: Brand New. reprint edition. 278 pages. 9.25x6.10x0.66 inches. In Stock.
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