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hierarchical modeling vlsi circuit di bhattacharya debashis (17 risultati)
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)
Da: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 6,62
Convertire valutaEUR 3,53 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: very_good. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in very good condition! The cover and any other included accessories are also in very good condition showing some minor use. The spine is straight, there are no rips tears or creases on the cover or the pages.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science)
Da: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 42,10
Convertire valutaEUR 40,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. 1990. 160 Seiten Ehem. Bibliotheksexemplar mit üblichen Merkmalen wie Signatur und Stempel. Moderate Lager- und Gebrauchsspuren. Text bis auf selten mögliche Anstreichungen sauber. Insgesamt guter Zustand. Sprache: englisch. Ex library book with stamps and signature. Slight signs of use. Good condition. Language: english. 9780792390589 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 939.
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EUR 79,37
Convertire valutaEUR 4,42 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 105,89
Convertire valutaEUR 3,53 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,24
Convertire valutaEUR 3,53 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 119,33
Convertire valutaEUR 14,22 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 119,33
Convertire valutaEUR 14,22 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 156,45
Convertire valutaEUR 3,53 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 176.
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EUR 118,64
Convertire valutaEUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Test generation is one of the most difficult tasks facing the designer of complex VLSI-based digital systems. Much of this difficulty is attributable to the almost universal use in testing of low, gate-level circuit and fault models that predate integrated .
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science (89))
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 167,47
Convertire valutaEUR 29,67 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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EUR 162,93
Convertire valutaEUR 30,12 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - Test generation is one of the most difficult tasks facing the designer of complex VLSI-based digital systems. Much of this difficulty is attributable to the almost universal use in testing of low, gate-level circuit and fault models that predate integrated circuit technology. It is long been recognized that the testing prob lem can be alleviated by the use of higher-level methods in which multigate modules or cells are the primitive components in test generation; however, the development of such methods has proceeded very slowly. To be acceptable, high-level approaches should be applicable to most types of digital circuits, and should provide fault coverage comparable to that of traditional, low-level methods. The fault coverage problem has, perhaps, been the most intractable, due to continued reliance in the testing industry on the single stuck-line (SSL) fault model, which is tightly bound to the gate level of abstraction. This monograph presents a novel approach to solving the foregoing problem. It is based on the systematic use of multibit vectors rather than single bits to represent logic signals, including fault signals. A circuit is viewed as a collection of high-level components such as adders, multiplexers, and registers, interconnected by n-bit buses. To match this high-level circuit model, we introduce a high-level bus fault that, in effect, replaces a large number of SSL faults and allows them to be tested in parallel. However, by reducing the bus size from n to one, we can obtain the traditional gate-level circuit and models.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Da: Celler Versandantiquariat, Eicklingen, Germania
Membro dell'associazione: GIAQ
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 20,00
Convertire valutaEUR 38,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloKluwer, Boston, 1990. X, 159 pages with some graphics, hard cover---Verlag: Kluwer Verlag: Kluwer -former library book in good condition- 460 Gramm.
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EUR 92,27
Convertire valutaEUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Test generation is one of the most difficult tasks facing the designer of complex VLSI-based digital systems. Much of this difficulty is attributable to the almost universal use in testing of low, gate-level circuit and fault models that predate integrated .
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Editore: Springer-Verlag New York Inc., 2011
ISBN 10: 1461288193 ISBN 13: 9781461288190
Lingua: Inglese
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 138,67
Convertire valutaEUR 11,67 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback / softback. Condizione: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 308.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 139,92
Convertire valutaEUR 19,52 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 970.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 163,55
Convertire valutaEUR 7,71 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 176 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 166,40
Convertire valutaEUR 9,95 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 176.
