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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science)
Da: Antiquariat Maiwald, Langen, HES, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 75,00
Convertire valutaEUR 16,00 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloGebundene Ausgabe. Condizione: Sehr gut. 492 Seiten Ausgabe von 2005, in Englisch, Hardcover gebunden, 489 Seiten, in sehr gutem Zustand, NW-717 17.04.2015 9783540253037 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050.
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Lifetime Spectroscopy : A Method Of Defect Characterization In Silicon For Photovoltaic Applications (springer Series In Materials Science)
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 161,21
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Lifetime Spectroscopy : A Method Of Defect Characterization In Silicon For Photovoltaic Applications (springer Series In Materials Science)
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 161,21
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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 218,23
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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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EUR 318,65
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Lifetime Spectroscopy : A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
Editore: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10: 3642064531 ISBN 13: 9783642064531
Lingua: Inglese
EUR 320,99
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy.
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Lifetime Spectroscopy : A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2005
ISBN 10: 3540253033 ISBN 13: 9783540253037
Lingua: Inglese
EUR 320,99
Convertire valutaEUR 14,99 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy.
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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 372,89
Convertire valutaEUR 7,70 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 372,89
Convertire valutaEUR 7,70 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 389,84
Convertire valutaEUR 29,29 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 450,48
Convertire valutaEUR 11,72 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 515 pages. 9.21x6.14x1.05 inches. In Stock.
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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science)
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 451,84
Convertire valutaEUR 11,72 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 489 pages. German language. 9.25x6.50x0.75 inches. In Stock.
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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)
Da: BennettBooksLtd, North Las Vegas, NV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 649,09
Convertire valutaEUR 37,66 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
