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Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing, 7)
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 113,55
Spedizione EUR 13,74
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Multi-Chip Module Test Strategies
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 167 1st Edition, Reprint.
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Multi-Chip Module Test Strategies
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 168.
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EUR 29,90
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).
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Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 151,79
Spedizione EUR 14,33
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 166 pages. 10.75x8.25x0.75 inches. In Stock.
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EUR 95,15
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Multi-Chip Module Test Strategies | Yervant Zorian | Taschenbuch | 167 S. | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461377986 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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EUR 118,64
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test .
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EUR 112,77
Spedizione EUR 61,85
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).
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Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 174,85
Spedizione EUR 11,47
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. reprint edition. 167 pages. 10.24x7.68x0.38 inches. In Stock.
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Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 178,34
Spedizione EUR 28,67
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing, 7)
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 178,34
Spedizione EUR 28,67
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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EUR 162,93
Spedizione EUR 62,63
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).
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Multi-Chip Module Test Strategies (eng)
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 86,24
Spedizione EUR 5,50
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
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Multi-Chip Module Test Strategies
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2). 168 pp. Englisch.
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Multi-Chip Module Test Strategies
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 135,65
Spedizione EUR 7,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 167.
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Multi-Chip Module Test Strategies
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 135,84
Spedizione EUR 7,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 168 68:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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EUR 92,27
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test .
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Multi-Chip Module Test Strategies
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 137,85
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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Multi-Chip Module Test Strategies
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 137,85
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 167.
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Multi-Chip Module Test Strategies
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic TestingLingua: Inglese
Editore: Springer, Springer US Okt 2012, 2012
ISBN 10: 1461377986 ISBN 13: 9781461377986
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
Spedizione EUR 60,00
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