On line testing vlsi (32 risultati)
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Condizione: New. Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, and more) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. This book contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing. Editor(s): Nicol…aidis, Michael; Zorian, Yervant; Pradhan, Dhiraj K. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 164 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 264 x 187 x 16. Weight in Grams: 520. . 1998. Reprinted from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Hardback. . . . .
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Condizione: New. pp. 164.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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On Line-Testing for VLSI
Nicolaidis, Michael (Edited by)/ Zorian, Yervant (Edited by)/ Pradhan, Dhiraj K. (Edited by)
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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Paperback. Condizione: Brand New. 164 pages. 11.00x8.25x0.37 inches. In Stock.
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Da: preigu, Osnabrück, Germaniapreigu
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Taschenbuch. Condizione: Neu. On-Line Testing for VLSI | Michael Nicolaidis (u. a.) | Taschenbuch | Frontiers in Electronic Testing | iv | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9781441950338 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbie…ter: preigu.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design o…f concurrent error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs. On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties. On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Condizione: New. Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, and more) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. This book contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing. Editor(s): Nicol…aidis, Michael; Zorian, Yervant; Pradhan, Dhiraj K. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 164 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 264 x 187 x 16. Weight in Grams: 520. . 1998. Reprinted from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer, 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design of concu…rrent error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs. On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties. On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.
Lingua: Inglese
Editore: Springer US, 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Condizione: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design of concurre…nt error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs. On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties. On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1998
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Editore: Springer, 1998
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Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Editore: Springer US, 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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Editore: Springer, 1998
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Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
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Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Lingua: Inglese
Editore: Springer US Apr 1998, 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 33 di 40. Libro 33 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Buch. Condizione: Neu. On-Line Testing for VLSI | Michael Nicolaidis (u. a.) | Buch | Frontiers in Electronic Testing | iv | Englisch | 1998 | Springer | EAN 9780792381327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Pr…int on Demand.
