System dependability analytics approaching (19 risultati)
System Dependability and Analytics : Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives
Wang, Long (EDT); Pattabiraman, Karthik (EDT); Di Martino, Catello (EDT); Athreya, Arjun (EDT); Bagchi, Saurabh (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2022
Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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System Dependability and Analytics : Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives
Wang, Long (EDT); Pattabiraman, Karthik (EDT); Di Martino, Catello (EDT); Athreya, Arjun (EDT); Bagchi, Saurabh (EDT)
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Editore: Springer, 2022
Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Editore: Springer, 2023
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System Dependability and Analytics : Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives
Wang, Long (EDT); Pattabiraman, Karthik (EDT); Di Martino, Catello (EDT); Athreya, Arjun (EDT); Bagchi, Saurabh (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2022
Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Editore: Springer, 2022
Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Editore: Springer, 2022
Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Editore: Springer, 2023
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Taschenbuch. Condizione: Neu. System Dependability and Analytics | Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives | Long Wang (u. a.) | Taschenbuch | Springer Series in Reliability Engineering | xi | Englisch | 2023 | Springer | EAN 9783031020650 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…
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Wang, Long (EDT); Pattabiraman, Karthik (EDT); Di Martino, Catello (EDT); Athreya, Arjun (EDT); Bagchi, Saurabh (EDT)
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Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Editore: Springer, 2023
Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book comprises chapters authored by experts who are professors and researchers in internationally recognized universities and research institutions. The book presents the results of research and descriptions of real-world systems, services, and technologies. Reading this book, researchers, professional practitioners, and graduate students will gain a clear vision on the state of the art of the research and real-world practice on system dependability and analytics.The book is published in honor of Professor Ravishankar K. Iyer, the George and Ann Fisher Distinguished Professor in the Department of Electrical and Computer Engineering at the University of Illinois at Urbana-Champaign (UIUC), Urbana, Illinois. Professor Iyer is ACM Fellow, IEEE Fellow, AAAS Fellow, and served as Interim Vice Chancellor of UIUC for research during 2008-2011. The book contains chapters written by many of his former students.…
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2022
Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Da: Books Puddle, Woodside, NY, U.S.A.Books Puddle
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Condizione: New. 1st ed. 2023 edition NO-PA16APR2015-KAP.
System Dependability and Analytics: Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives (Springer Series in Reliability Engineering)
Wang, Long (Editor) / Pattabiraman, Karthik (Editor) / Di Martino, Catello (Editor) / Athreya, Arjun (Editor) / Bagchi, Saurabh (Editor)
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Editore: Springer, 2023
Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Editore: Springer, 2022
Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Editore: Springer, 2022
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