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yield variability optimization integrated di styblinski jian (11 risultati)
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 99,78
Spedizione EUR 3,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 99,78
Spedizione EUR 3,32
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,72
Spedizione EUR 13,78
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 112,10
Spedizione EUR 13,78
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1995
ISBN 10: 0792395514 ISBN 13: 9780792395515
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 135,22
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Deals with the primary and theoretical and practical aspects of IC statistical design and covers the important issues of IC statistical design and the relevant mathematical framework. This book is intended as introductory reference material for various groups of IC designers. Num Pages: 234 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 542. . 1995. Hardback. . . . .
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1995
ISBN 10: 0792395514 ISBN 13: 9780792395515
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. Deals with the primary and theoretical and practical aspects of IC statistical design and covers the important issues of IC statistical design and the relevant mathematical framework. This book is intended as introductory reference material for various groups of IC designers. Num Pages: 234 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 542. . 1995. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 162,31
Spedizione EUR 28,76
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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EUR 92,27
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications. In reality, however, due to the disturbances oft.
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EUR 92,27
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications. In reality, however, due to the disturbances oft.
