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yield variability optimization integrated di styblinski jian (12 risultati)
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,03
Convertire valutaEUR 10,30 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,03
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EUR 96,09
Convertire valutaEUR 25,56 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
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EUR 96,09
Convertire valutaEUR 25,56 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 2 disponibili
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 126,18
Convertire valutaEUR 17,04 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 15 disponibili
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 132,24
Convertire valutaEUR 17,04 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 15 disponibili
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1995
ISBN 10: 0792395514 ISBN 13: 9780792395515
Lingua: Inglese
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 151,64
Convertire valutaEUR 2,00 per la spedizione da Irlanda a ItaliaQuantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Deals with the primary and theoretical and practical aspects of IC statistical design and covers the important issues of IC statistical design and the relevant mathematical framework. This book is intended as introductory reference material for various groups of IC designers. Num Pages: 234 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 542. . 1995. Hardback. . . . .
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,23
Convertire valutaEUR 63,93 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,23
Convertire valutaEUR 63,93 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1995
ISBN 10: 0792395514 ISBN 13: 9780792395515
Lingua: Inglese
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 187,93
Convertire valutaEUR 1,88 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Deals with the primary and theoretical and practical aspects of IC statistical design and covers the important issues of IC statistical design and the relevant mathematical framework. This book is intended as introductory reference material for various groups of IC designers. Num Pages: 234 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 542. . 1995. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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EUR 92,27
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications. In reality, however, due to the disturbances oft.
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EUR 92,27
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications. In reality, however, due to the disturbances oft.
