Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
amerasekera e a (4 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (4)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (1)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (1)
- Molto buono o Buono (1)
- Discreto o Mediocre (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Come descritto (1)
Legatura
- Tutte
- Rilegato (4)
- Brossura (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (1)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (1)
- Non Print on Demand (4)
Lingua (2)
Spedizione gratuita
- Spedizione gratuita in U.S.A. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Lingua: Inglese
Editore: Somerset, New Jersey, U.S.A.: John Wiley & Sons Inc, 1987
ISBN 10: 0471914347 ISBN 13: 9780471914341
Da: Bingo Books 2, Vancouver, WA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. hardback book in very good to near fine condition,some red ink underlining,notations present.
-
Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Lingua: Inglese
Editore: Somerset, New Jersey, U.S.A.: John Wiley & Sons Inc, 1987
ISBN 10: 0471914347 ISBN 13: 9780471914341
Da: Bingo Books 2, Vancouver, WA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Near Fine. hardback book in near fine condition,name,blind stamp on first blank page.
-
EUR 235,01
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Failure Mechanisms in Semiconductor Devices Second Edition E. Ajith Amerasekera Texas Instruments Inc., Dallas, USA Farid N. Najm University of Illinois at Urbana-Champaign, USA Since the successful first edition of Failure Mechanisms in Semiconductor Devic.
-
Failure Mechanisms in Semiconductor Devices.
Editore: Chichester: John Wiley & Sons, 1987
Da: CHILTON BOOKS, SUDBURY, Regno Unito
Membro dell'associazione: PBFA
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 29,78
Spedizione EUR 46,25
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrello1st ed. "All the major aspects of semiconductor device reliability receive coverage in this text." Pp. 13/205, figures and diagrams throughout, fep top corner clipped. Illustrated laminated boards. G+.
