Amerasekera e a (4 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: Somerset, New Jersey, U.S.A.: John Wiley & Sons Inc, 1987
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Da: Bingo Books 2, Vancouver, WA, U.S.A.Bingo Books 2
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato - Molto buono
EUR 7,69
EUR 5,52 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Hardcover. Condizione: Very Good. hardback book in very good to near fine condition,some red ink underlining,notations present.
Lingua: Inglese
Editore: Somerset, New Jersey, U.S.A.: John Wiley & Sons Inc, 1987
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Da: Bingo Books 2, Vancouver, WA, U.S.A.Bingo Books 2
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato - Quasi ottimo
EUR 61,49
EUR 5,52 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Hardcover. Condizione: Near Fine. hardback book in near fine condition,name,blind stamp on first blank page.
- Rilegato
Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 235,68
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Gebunden. Condizione: New. Failure Mechanisms in Semiconductor Devices Second Edition E. Ajith Amerasekera Texas Instruments Inc., Dallas, USA Farid N. Najm University of Illinois at Urbana-Champaign, USA Since the successful first edition of Failure Mechanisms in Semiconductor Devic.
Editore: Chichester: John Wiley & Sons, 1987
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- Prima edizione
Da: CHILTON BOOKS, SUDBURY, Regno UnitoCHILTON BOOKS
Contatta il venditoreVenditore con 3 stelleMembro dell’associazione: PBFA
Condizione: Usato
EUR 29,94
EUR 46,51 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrello1st ed. "All the major aspects of semiconductor device reliability receive coverage in this text." Pp. 13/205, figures and diagrams throughout, fep top corner clipped. Illustrated laminated boards. G+.
